Gebraucht JEOL JEM 2011 #293736860 zu verkaufen

JEOL JEM 2011 ist ein ultrahochauflösendes Elektronenmikroskop (SEM), das eine unübertroffene Abbildung feiner Details in einer Reihe von Proben ermöglicht. Seine fortschrittlichen optischen und elektronischen Technologien ermöglichen Hochgeschwindigkeits- und Hochauflösungs-Bildgebung mit einer Auflösung von 1 nm. JEM 2011 verwendet eine einzigartige, vakuumarme Vakuum-Feldemissionsquelle (VFEM) mit einer hochauflösenden Mehrstrahlplattform für eine schnellere, hellere und gleichmäßigere Bildgebungsleistung. Das SEM kombiniert die flache Schärfentiefe im Zusammenhang mit herkömmlichem TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) und die große Schärfentiefe, die nur mit SEM erreicht werden kann. Mit neuen bildgebenden Technologien wie Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX), Supersonic Imaging (SI) und Wavefront Optimized Imaging (WOI) bietet JEOL JEM 2011 kontrastreiche Bilder von Elementen in Samples. EDX kann verwendet werden, um Spuren von Elementen in einer Probe zu erkennen, und sein spektraler Linienmodus bietet eine verbesserte Auflösung und Empfindlichkeit. JEM 2011 nutzt auch die fortschrittliche CCD-Technologie, um großformatige Bilder mit hohen Auflösungen zu erfassen. Die CCD erfasst automatisch Bilder mit hohem und niedrigem Kontrast, wodurch manuelle Anpassungen entfallen. Darüber hinaus erleichtert sein optimiertes Abschattungssystem die Handhabung und genaue Signalreinheit. Für fortgeschrittene Studien, die ein höheres Niveau der Analyse erfordern, bietet JEOL JEM 2011 ein variables Hochspannungsbeschleunigungssystem, das bis zu 2.5kV mit +/- 0.25V gehen kann und die Untersuchung von Proben auf verschiedenen Energieniveaus ermöglicht. Darüber hinaus bietet JEM 2011 hohe Stabilität und geringe Drift für eine optimale Bildgebung auch bei höheren Beschleunigungen. JEOL JEM 2011 ist aufgrund seiner vereinfachten Bedienoberfläche schnell und einfach zu bedienen. Seine benutzerfreundlichen Menüs, Symbole und Touch-Panel-Funktionen ermöglichen ein nahtloses Erlebnis. Darüber hinaus wurde die Scan- und Bildgebungsleistung auf hohe Leistung und Qualität getestet und zertifiziert. Insgesamt bietet JEM 2011 ultrahochauflösende Bildgebungs- und erweiterte Analysefunktionen mit niedriger Drift, niedrigem Vakuum und hohem Probendurchsatz, wodurch es für detaillierte und genaue Studien gut geeignet ist. Die sehr benutzerfreundliche Bedienung und umfangreiche Unterstützungsfunktionen machen es zu einem idealen Werkzeug für die Forschung.