Gebraucht JEOL JEM 2100 #293822851 zu verkaufen

JEOL JEM 2100 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein weltweit führendes analytisches Instrument mit unübertroffener Leistung, das es Anwendern ermöglicht, Mikrometer und nanometergroße Partikel zu visualisieren, die noch nie zuvor gesehen wurden. JEM 2100 ist in der Lage, Auflösungen bis zu 0,2 nm bei höheren Vergrößerungen zu erreichen, und kann verwendet werden, um 3D-Datensätze von Proben mit Auflösungen auf der Nanoskala zu erzeugen. Seine hoch einstellbare Vergrößerung ermöglicht es Benutzern, Details genau zu studieren, die sie sonst möglicherweise nicht beobachten können. JEOL JEM 2100 verwendet eine neuartige Schottky-Emissionskanone, die eine wesentlich höhere Auflösung als herkömmliche thermische Emissionskanonen ermöglicht. Dadurch konnte JEM 2100 bei höheren Vergrößerungen eine beispiellose Auflösung von 0,2 nm erreichen, was eine stark erweiterte Strukturdaten und Bildgebung von Nanomaterialien ermöglicht. Zusätzlich ist JEOL JEM 2100 mit einem CS-Korrektor ausgestattet, der die bildgebende Auflösung durch Korrektur von sphärischen und chromatischen Aberrationseffekten verbessert. Die fortschrittlichen JEM 2100-Detektoren ermöglichen ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis. Der Flutpistolendetektor, EDAX EDX-Detektor und bildgebende Detektoren ermöglichen eine einfache Erfassung sowohl elementarer als auch struktureller Daten aus Proben. So können Anwender schnell Datensätze und Bilder auf einer Vielzahl von Materialien generieren. Der Elektronenstrahl kann auch modifiziert werden, um unterschiedliche Effekte zu erzielen. Eine Modifikation der Kondensatorlinse ermöglicht es dem Benutzer, den Elektronenstrahl zu fokussieren, um eine laplacische Form erster Ordnung zu erhalten. Dieser Effekt kann verwendet werden, um einen 3D-Datensatz mit feinen Details einer Probe zu erzeugen, die eine dreidimensionale Ansicht liefert. JEOL JEM 2100 verfügt auch über automatisierte Stufen, die präzise Bewegungen der Probe während der Bildgebung ermöglichen, so dass der Datenerfassungsprozess schneller und effizienter ist. Die automatisierte Bühne ermöglicht es Benutzern, den Bildbereich sowie die Scanrate für die Datenerfassung zu definieren. Die vollständige Integration von Automatisierung und neuartigen Funktionen von JEM 2100 macht es zu einem idealen Instrument für Forschung und Qualitätskontrolle. Seine fortschrittlichen Detektoren, hohen Auflösungen, automatisierten Stufen und Kondensatorlinsenmodifikationen bilden alle ein leistungsstarkes MINT. Diese Vielseitigkeit macht JEOL JEM 2100 zur perfekten Wahl für die Analyse struktureller Details verschiedener Materialien.