Gebraucht JEOL JEM 2100 #9185479 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9185479
Analytical transmission electron microscope
Specimen anti-contamination trap
Point-to-point resolution: 0.25 nm (guaranteed by JEOL)
Observed Au (002) 0.2039nm, Si (022) 0.19194nm
Stage tilt angle: +/-30 degrees for X axis
Controller: Double tilt power supply
HXA Hard X-ray aperture
Retainer EM-21150 for low background EDX analysis
Free lens control
200kV
Modes:
TEM Microprobe
TEM Nanoprobe
STEM (Scanning transmission electron microscope)
OXFORD SDD Thin-window energy dispersive X-ray (EDS) detector
GATON Orius 1000 slow scan CCD camera
With 2k x 4k
Bright field (BF)
High-angle annular dark field (HAADF)
STEM Detectors: 35mm port
Objective pole piece
Capable of ±30° tilt
Cryo-sample holder: -183°C
Double-tilt: ±30° holder
Background (Be) EDS holders
Accelerating voltage:
Maximum accelerating voltage: 200 kV
Engineer alignments at 120kV, 200kV
Operator alignment at 80kV
Electron gun assembly:
LaB6
Spare wehnelt assembly
Spare DENKA filament – LKSH60SM3
Pole piece:
High tilt analytical pole piece (HRP20)
EM20720
Specimen holders take standard 3mm grid:
JEOL Single tilt
JEOL Tilting holder EM31630 +/-30 degrees for Y tilt axis
GATAN Cryoholder
Model: 636-J1622403N01HC
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup with heater
SATW Ultra-thin polymer window - window for detection of light elements
GATAN Double tilt holder (phosphor bronze):
Model: 646
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup
Double tilt power supply
TEM Mode:
Low mag: 50x - 6,000x
High mag: 2,000x - 1,500,000x
SA Mag: 8,000x - 800kx
Diffraction: 8cm - 200cm
MDS
Camera:
Orius SC1000 CCD camera: 4k x 2k
4008x2670 Pixels interline device
9um x 9um Pixel size
Binning 1x, 2x, 3x, 4x
Operating temperature = +10ºC
STEM Mode:
Mag & AMAG modes
Image resolution: 1.5 nm with HTP
Bright field STEM at 200 kV
Low mag: 100x to 15,000x
High mag: 20,000x to 2,000,000x
JEOL Bright field detector
JEOL High angle annular dark field (HAADF) detector
Rocking beam
Nano probe:
Alpha 1-5
Spot size 0.5nm-25nm
EDS:
Alpha 1-3
Spot size 0.5nm-25nm
CBED:
Alpha 1-9
Spot size 0.5nm-25nm
EDS Detector:
SDD 80 mm
Solid angle: 0.13sr
Resolution:
Mn Ka 127eV
F Ka 64eV
C Ka 56eV
Operating systems:
Windows XP for JEOL TEM PC
Windows XP for GATAN camera PC
Windows 7 for OXFORD EDX PC
KVMP Switch box for single wireless keyboard
Single wireless mouse control
Dual monitors
Missing part:
Gatan double tilt holder (be low background)
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday Cup
Double tilt power supply
Power:
240V/32A 50Hz main
All 240V PC run from JEOL transformer
TEM is 115V
Currently installed.
JEOL JEM 2100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Welt der Elektronenmikroskopie revolutioniert hat. Es verfügt über ein kompaktes und platzsparendes Design, das den Laborarbeitsplatz maximiert. Dieses hochmoderne Instrument ist in der Lage, hochauflösende Bilder zu erzeugen, die ideal für die Tiefenanalyse sind. Das Mikroskop hat eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV und eine Stromrate von 2 nA, so dass es leistungsstarke Bilder seiner Proben aufnehmen kann. Es wird auch mit benutzerfreundlicher Software geliefert, die die Bedienung und das praktische Training für Benutzer erleichtert. JEM 2100 verfügt über ein Wolfram-Filament, achromatische Objektiv, und eine hochpräzise Pistole Steuerung. Das Wolfram-Filament emittiert Elektronen, die in die Probe eindringen und Details zeigen können, die normalerweise für Lichtmikroskope nicht sichtbar sind. Diese Elektronen werden von der achromatischen Objektivlinse fokussiert und durchlaufen dann die Waffensteuerung, die Signale und Bilder überlagert. JEOL JEM 2100 bietet eine Vielzahl von Scanmodi, um eine Vielzahl von Anforderungen zu erfüllen. Winkelgelöste Sekundärelektronenbilder (ARSEI) können verwendet werden, um sehr kleine Merkmale und Oberflächentopographie an Proben zu analysieren. Darüber hinaus können mit der Option Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersive Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) Elemente auf Proben identifiziert werden. Dieses fortschrittliche Instrument kann sogar in automatisierten Produktionslinien am Arbeitsplatz für routinemäßige Inspektionen oder in Forschungslabors für kritische Analysen eingesetzt werden. JEM 2100 verfügt auch über ein rauscharmes Bildgebungssystem, eine ausgezeichnete Vakuumleistung und eine hochpräzise Positionierungssteuerung, die die Probe genau zentriert. JEOL JEM 2100 ist die ultimative Wahl für diejenigen, die nach einem fortschrittlichen und zuverlässigen Rasterelektronenmikroskop suchen. Von seiner benutzerfreundlichen Oberfläche bis zu seinen leistungsstarken Bildgebungs- und Datenerfassungsfunktionen ist dieses Instrument perfekt für Labore geeignet, die das beste Elektronenmikroskop auf dem Markt benötigen.
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