Gebraucht JEOL JEM 2100A #9355536 zu verkaufen
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ID: 9355536
Transmission Electron Microscope (TEM)
Lattice image resolution: 0.1 nm
STEM Image resolution: 0.2 nm
FEG Schottky gun (ZrO2 / W)
GATAN UltraScan 894 CCD
GATAN 788 DigiScan II Control box
Chiller with refrigerated circulation system
GATAN Tridiem 863 EELS Detector
MARUYAMA Rotary pump
GOINO Tilt angle: ±30°
GATAN 925 Single tilt holder
Operating system: Windows XP, 32 bit
JEOL UPS
CL Aperture:
200 µm
100 µm
40 µm
10 µm
OBJ Aperture:
120 µm
60 µm
20 µm
10 µm
SA Aperture:
120 µm
50 µm
20 µm
10 µm
JED-2300 EDS Detector Si (Li) (Currently non-functional).
JEOL JEM 2100A ist ein branchenführendes Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) für eine Vielzahl von Bildgebungs-, Analyse- und Probenvorbereitungsanwendungen. Mit einer einstellbaren Beschleunigungsspannung von 0.2kV bis 30kV, einem automatisierten Kammervakuumregler und einer automatisierten Gaseinlasseinrichtung bietet das Mikroskop eine breite Palette an bildgebenden und analytischen Möglichkeiten. JEOL JEM 2100 A verfügt über einen umweltgenauen Probenhalter, mit dem das System einen kontrollierten atmosphärischen Druck in der Probenkammer ausüben kann. Dies ist wesentlich für die Abbildung von nassen, zerbrechlichen und kondensationsanfälligen Proben wie lebenden Zellen oder Organismen. Die sphärische und chromatische aberrationsfreie Nachsäulen-Elektronenoptik erzeugt hochwertige Bilder mit einer hohen Auflösung von bis zu 5,4 nm ohne zusätzliche Linsen. Mit dem patentierten EverHigh Sensitivity Elektronendetektor und der EverHigh Contrast Contrast Detail Enhancement Technologie können Sie selbst die schwächsten Signale erkennen und feinste Details in strahlempfindlichen Proben visualisieren. Der OA-EBO5 BSE/SE Bildprozessor umfasst mehrere Bildverarbeitungs- und Analyseoperationen, wie Rauschreduzierung, Kontrastverbesserung, Kantenerkennung und Quantifizierung. JEM- 2100A kann auch für energiedispergierte Röntgenanalyse (EDX) -Funktionen verwendet werden. EDX ermöglicht die elementare Analyse der Probe unter Beibehaltung ihrer Integrität. Das Mikroskop kann sogar für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) verwendet werden, was Ihnen die Möglichkeit gibt, feinste Details dickerer Materialien zu beobachten und relativ große Strukturen in hoher Auflösung zu beobachten. JEM 2100 A ist mit einer breiten Palette von Hardwarefunktionen ausgestattet, wie einer automatisierten Bühne, einem programmierbaren Probenhalter, einer hochleistungsfähigen digitalen Bildverarbeitungsmaschine und einem leistungsstarken Controller. Dieses vielseitige und zuverlässige Mikroskop ist kompatibel mit einer Vielzahl von Geräten, einschließlich Probenvorbereitungsstufen, Niedervakuumbeschichtungssystemen und Kryosphären. JEOL JEM 2100A wurde entwickelt, um eine beispiellose Leistung und Genauigkeit für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie und medizinischer Forschung zu bieten. JEOL JEM 2100 A verfügt über eine außergewöhnlich hohe Auflösung und erweiterte Analysefunktionen und kann Ihnen dabei helfen, eine unübertroffene Forschungsproduktivität zu erreichen.
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