Gebraucht JEOL JEM 2100F #293628159 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges, leistungsstarkes Instrument zur Untersuchung der Topographie und detaillierten Zusammensetzungsprofil einer Vielzahl von Materialien. Mit einer Reihe von Elektroden produziert JEM 2100F Elektronen, die fokussiert und beschleunigt werden, bevor sie von einem Wolframfaden emittiert werden. Diese Elektronen werden dann über die Probenoberfläche gescannt, um ein mikroskopisches Bild zu erzeugen. Das 2100F bietet hochauflösende und kontrastreiche Bildgebung mit ausgezeichneter Kantenschärfe und Schärfentiefe. Der emittierte Elektronenstrahl ist auf 10-20 kV standardisiert, was einen schnelleren Betrieb und zuverlässigere Ergebnisse ermöglicht. Der Elektronenstrahl hat auch einen einstellbaren Strompegel, der eine Reihe von Anwendungen ermöglicht. In der Analyse kann JEOL JEM 2100F elementare Detektion, kompositorische Kartierung und elementare Kontrastbildgebung liefern. Das Gerät verfügt über einen dedizierten Energy Dispersive-Röntgendetektor, um die Zusammensetzung verschiedener Teile einer Probe zu identifizieren. Darüber hinaus verfügt das 2100F über ein variables Drucksystem, das die Probenaufladung bei der Abbildung nichtleitender Proben reduziert. Die Bildaufnahmefunktionen der Einheit umfassen variablen Winkel, variable Vergrößerung und variablen Fokus für eine breite Palette von Beispielbildern. Ein integrierter XY-Scanner ermöglicht es dem Benutzer, den Scanbereich und die Auflösung aus einem einzigen Sichtfeld auszuwählen und zu variieren. Die 2100F verfügt auch über austauschbare Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und Fluoreszenzdetektoren, um Bildkontrast für verschiedene Analysen bereitzustellen. Darüber hinaus ermöglicht die Maschine eine situative Probenanalyse mit automatischer Wasserkühlung und In-situ-Vorspannung. Darüber hinaus kann das 2100F mit einer Vielzahl von automatisierten und manuellen Probenhaltern verwendet werden, um die Untersuchungszeit zu reduzieren und die Genauigkeit zu erhöhen. Insgesamt ist JEM 2100F ein leistungsstarkes, vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es liefert eine beeindruckende Tiefenschärfe, hochauflösende Bildgebung und einen einstellbaren Elektronenstrahl, wodurch es für eine Reihe von Anwendungen geeignet ist.