Gebraucht JEOL JEM 2100F #9186593 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bildgebungs- und Analysefähigkeiten für die Materialforschung bietet. Das Mikroskop ist in der Lage, Objekte bei Vergrößerungen bis zu 50000x abzubilden und hat einen Arbeitsabstand von bis zu 6,8 mm für maximalen Arbeitsabstand und Flexibilität. Es ist mit einer Reihe fortschrittlicher Technologien ausgestattet, darunter eine monochromierte Elektronenkanone, ein Hochgeschwindigkeits-Breitbanddetektor, eine elektronenoptische Gun Microlens und eine dreidimensionale Feimaster Microprobe. Darüber hinaus nutzt JEM 2100F eine Vielzahl einzigartiger Elektronenquellentechnologien, wie den Betrieb mit niedrigem Vakuum (LV) und den Betrieb mit variablem Druck (P) sowie die Option Freeze Fracture-Reduction Gas (FFRG), die eine verbesserte Steuerung des Elektronenstrahls ermöglicht. Das Mikroskop verfügt über ein modernes Bildgebungssystem, das Backscatter-Bildgebung (BI), sekundäre Elektronenbildgebung (SEI) und Energiedispersive Spektroskopie (EDS) umfasst, so dass Benutzer verschiedene Arten von fortgeschrittenen analytischen Techniken durchführen können. Darüber hinaus verfügt JEOL JEM 2100F über ein erweitertes Leistungsspektrum, einschließlich eines Low-Dose-Bildverarbeitungsmodus, einer digitalen Auslesestufe, einer hochauflösenden rotierenden Anode und eines Low-Angle-Videosystems, mit dem Benutzer möglichst detaillierte und genaue Bilder erhalten können. Alle diese Funktionen kombinieren, um JEM 2100F eines der besten Rasterelektronenmikroskope auf dem Markt zu machen und bietet unübertroffene Bildgebungs- und Analysefähigkeit für die Materialforschung.