Gebraucht JEOL JEM 2100F #9204937 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Reihe von leistungsstarken Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten für eine Vielzahl von Anwendungen bereitstellen kann. Dank seiner fortschrittlichen Technologie bietet es hervorragende Auflösungs-, Kontrast- und Bildgebungsfunktionen. Dies macht es zu einer idealen Wahl für Halbleiter-, biologische und Materialanalytik. Die bildgebenden Funktionen von JEM 2100F werden durch eine beeindruckende Anordnung dreidimensionaler tomographischer bildgebender Funktionen angetrieben. Das multidirektionale Strahlscannen ermöglicht die schnelle Erfassung hochauflösender Bilder mit einem gesamten Live-Sichtfeld bis 18 mm. Dadurch wird sichergestellt, dass komplexe Strukturen mit kleinen Details einfach erfasst werden können, ohne die Objektauflösung zu beeinträchtigen. Das Instrument ist mit einer automatisierten Navigationsmotorstufe ausgestattet, die ein effizientes Probenhandling ermöglicht. Das integrierte Sample Center Detection (SCD) System sorgt für eine genaue Positionierung der Probe. Der Sekundärelektronendetektor (SED) bietet eine hohe Empfindlichkeit, die einen hervorragenden Kontrast bei einem besseren Signal-Rausch-Verhältnis gewährleistet. Die automatisierte Umschaltfunktion macht den Betrieb von JEOL JEM 2100F einfach und effizient. Es arbeitet mit einer Reihe von Probenhaltern, so dass es möglich ist, eine breite Palette von Proben abzubilden. Es ist mit einer hochauflösenden Farbkamera mit integrierter LED-Arbeitsbeleuchtung ausgestattet, die hervorragende Echtzeit-Bildgebungsfunktionen bietet. Der fortschrittliche LCD-Touchpanel-Controller ermöglicht eine intuitive Steuerung der Instrumenteneinstellungen. Dies macht es einfach, entsprechende Bestrahlungsparameter zu konfigurieren und Bilder zu speichern. Es stehen mehrere Analysefunktionen zur Verfügung, darunter ein Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS) -System und ein EBSD-Detektor (Electron Backscatter Diffraction). JEM 2100F ist ein All-in-One-Rasterelektronenmikroskop mit einer breiten Palette von Funktionen und Technologien. Es ist zuverlässig, einfach zu bedienen und bietet überlegene Bildgebungsfunktionen. Es ist eine außergewöhnliche Wahl für Anwendungen, die hervorragende Auflösungs-, Kontrast- und Analysefunktionen erfordern.