Gebraucht JEOL JEM 2100F #9236895 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem beschleunigenden Spannungsbereich von 1-30kV. Seine theoretische Auflösung und dreidimensionale Abbildungsfähigkeit ermöglichen eine direkte Beobachtung auch kleinster Proben ohne Färbung oder Verarbeitung. Durch seinen einstellbaren Arbeitsabstand nimmt JEM 2100F große und sperrige Objekte sowie Standardgrößen auf. Das SEM ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen feinen Elektronenstrahl mit einer Elektronenquelle erzeugt, die garantiert eine stabile Spannung erzeugt. Diese Stabilität gewährleistet eine hochauflösende Bildgebung mit einer ausgezeichneten Punkt-zu-Punkt-Auflösung von 4 nm. Der sekundäre Elektronenbildmodus ermöglicht eine dreidimensionale Abbildung der Probe, während der Rückstreuelektronenmodus Informationen über die Probenzusammensetzung liefert. Das SEM enthält auch einen Seitendetektor, um bestimmte Details der Probe in größerem Maßstab zu beobachten. Ein intelligentes Design kombiniert mit der Fähigkeit der Mustererkennung ermöglicht die automatische Fokussierung und die Veränderung von Helligkeit und Kontraststufen basierend auf den Bedürfnissen des Benutzers. Eine Probenabbildungsfunktion ermöglicht die Erfassung von Bildern aus verschiedenen Teilen der Probe, ohne dass die Bühne bewegt werden muss. Die große Schärfentiefe dieses SEM verbessert die Abbildung dicker Proben. JEOL JEM 2100F ist ein intuitives Instrument, das mit einem praktischen Touchscreen-Bedienfeld ausgestattet ist. Dieses Bedienfeld ermöglicht es dem Benutzer, eine Vielzahl von Einstellungen wie Beschleunigungsspannung, Strom und Partikel sowie Zoomen, Fokus und Helligkeitsstufen anzupassen. Es ermöglicht auch die Änderung von Auflösung, Vergrößerung und Sichtfeld. Zusätzlich zu diesen Funktionen ist JEM 2100F mit einem On-Board-PC ausgestattet, der Windows 10 Professional und JEOL Software zur Datenspeicherung und -verarbeitung beinhaltet. Diese Software ermöglicht die Manipulation von Bildern, die Beschriftung von Etiketten und die Steuerung des Instruments direkt vom PC aus. Insgesamt ist JEOL JEM 2100F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine detaillierte Beobachtung selbst der kleinsten Merkmale verschiedener Proben mit hoher Genauigkeit und Klarheit ermöglicht. Seine Fähigkeit, große und sperrige Objekte zu handhaben, kombiniert mit seinem multifunktionalen Bedienfeld und dem On-Board-PC, machen es zu einer idealen Wahl für verschiedene wissenschaftliche und Forschungszwecke.