Gebraucht JEOL JEM 2100F #9248479 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9248479
Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM)
P/N / Description
EM-21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism corrector unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole
EM-20G80 / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM-20531OLACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM-37115MON / Monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM-28022LP2 / Lift pole
SF6 / Gas charge tool
EM-48141D / Water chiller
A11J103SD002-08 II / Voltage regulator for 2100F BU
SP-2100F / Spare parts
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
- / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T System
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
- / GATAN Holder and digiscan function
- / GATAN 925 Double tilt holder
- / GATAN 925
- / GATAN 788 DigiScan.
JEOL JEM 2100F Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochauflösendes, digitales Bildgebungsinstrument, das in der Lage ist, extrem detaillierte Bilder aus einer Vielzahl von Materialien zu erzeugen. Mit einem fokussierten Elektronenstrahl ist er in der Lage, Vergrößerungen bis zu einer Million Mal, so dass die Auflösung von sehr kleinen Merkmalen. JEM 2100F bietet auch ein breiteres Spektrum an analytischen Fähigkeiten als andere Elektronenmikroskope, einschließlich elementarer, kristallographischer und morphologischer Analysen. JEOL JEM 2100F verfügt über einzigartige Funktionen, die eine leistungsstarke Bildgebungsplattform für eine Vielzahl von Anwendungen bieten. Es verfügt über eine integrierte hochauflösende digitale Bildverarbeitungsausrüstung, die 3D-gerenderte Bilder erzeugen kann, und bietet Nachbearbeitungsfunktionen, um den Kontrast zu verbessern. Sie weist ferner eine variable Druckkammer zur Abbildung von Proben unter unterschiedlichen Bedingungen sowie eine automatisierte Probenvorbereitungsstufe auf. JEM 2100F nutzt eine breite Palette von Elektronensäulentechnologien, einschließlich Kaltfeldemission und elektrostatische Linsen. Dadurch kann das System optimiert werden, um Bilder höherer Qualität bei verschiedenen Vergrößerungen von einem halben Millionstel Meter bis zu einem Millionstel Meter zu erzeugen. JEOL JEM 2100F bietet auch ein großes Sichtfeld, das eine effiziente Probenbeladung und schnellere Bildgebung ermöglicht. JEM 2100F ist zudem mit einem integrierten EDS-Röntgenspektrometer ausgestattet, das eine Elementaranalyse mit bis zu 720 Kev Beschleunigungsspannung ermöglicht. Diese Funktionalität ebon kombiniert mit den fortschrittlichen bildgebenden Funktionen des Geräts ermöglicht es, sie für anspruchsvolle Materialcharakterisierungsanwendungen zu verwenden. Schließlich ist JEOL JEM 2100F ein vollautomatisches SEM, was bedeutet, dass es für längere Zeit unbeaufsichtigt laufen kann. Dies macht es ideal für Labore, in denen ein einzelner Bediener eine Reihe von Experimenten bewältigen kann, ohne sich um die Leistung der Maschine zu kümmern.
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