Gebraucht JEOL JEM 2100F #9249571 zu verkaufen

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ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM) Operated at 200 kV vacuum system for analysis Part number / Description EM 21001FBU / Electron microscope basic unit EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit EM-20500 / CM Lens unit EM-20023 / High resolution pole piece EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture EM-37134PCU / Operation unit EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit EM-23080 / DP Rough pump unit EM 37115MON / Main monitor EM-25400 / Digital hour meter EM 28022IP2 / Lift pole Essential accessories: SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply) EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410) EM-30040(BS) / Beam stopper EX-37200SMU / Swing mouse unit DTM-961002 / Step down transformer for CWC A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643) SP-2100F / Spare parts kit CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor Battery / Car battery for EM-28220 UPS STEM / Digital STEM package EM-24541SIOD / Scanning image observation device EM-27102IAU / Image acquisition unit EM-24560 / Dark field image observation device EM-20380 / Hard X-ray aperture EM-20590 / Electrode short switch EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system GATAN / Holder and DigiScan function - / Model 788 DigiScan II - / GATAN Double tilt holder 925 Manuals.
JEOL JEM 2100F ist ein hochleistungsfähiges, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das leistungsstarke, hochmoderne Bildgebungs- und Analysetechnologie mit intuitiver, benutzerfreundlicher Bedienung kombiniert. Das System bietet eine breite Palette von Anwendungen, von der routinemäßigen Bildgebung bis zu den Möglichkeiten der 3D-und Spektroskopie, bietet beispiellose bildgebende und analytische Fähigkeiten. Das System basiert auf einem CCD-Bildgebungssystem, das eine echte hochauflösende Bildgebung in allen drei Techniken bietet; herkömmliche Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und In-Linsen-Detektion. Mit seinen leistungsstarken, hochauflösenden CCD-Sensoren ist JEM 2100F in der Lage, detailreiche Bilder und Daten bei Auflösungen von 1 nm und darüber hinaus zu erzeugen. Fortschrittliche Detektoren, einschließlich eines energiedispersiven Röntgendetektors und eines Gesamtenergiedetektors, liefern hochwertige analytische Daten und liefern genaue Ergebnisse in der Elementaranalyse und in der Chemie-Profilierung. JEOL JEM 2100F ist auch mit einer mehrachsigen Probenstufe ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, die Probe für verschiedene Winkel und Perspektiven leicht zu manipulieren und zu bewegen sowie größere Bereiche abzubilden. Darüber hinaus bietet die eingebaute Digitalkamera eine bequeme Beispielansicht und -prüfung. Fortgeschrittene Funktionen, wie der doppelte kontrastreiche Mikromanipulator und die doppelseitigen Heiz- und Kühlplatten, bieten dem Benutzer weitere Flexibilität und Kontrolle. Insgesamt ist JEM 2100F eine ideale Wahl für eine breite Palette von Elektronenmikroskopie-Anwendungen aufgrund seiner hohen Leistung, detaillierte Bildgebung und analytische Fähigkeiten. Dank seiner Benutzerfreundlichkeit und intuitiven Bedienung eignet es sich besonders gut für das Labor oder die Forschung und ist somit ein sehr wertvolles Gut.
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