Gebraucht JEOL JEM 2100F #9255945 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine qualitativ hochwertige, hochauflösende Abbildung und Analyse von Proben zu ermöglichen. Dieses fortschrittliche SEM bietet verbesserte Auflösung und Kontrast, kürzere Bildgebungszeiten und verbesserte Probenvorbereitungsfähigkeit. Seine fortschrittliche Elektronenoptik bietet eine breite Palette von Bildgebungs- und Korrekturmodi, die auf die Bedürfnisse anspruchsvoller Forscher zugeschnitten sind. Die Elektronenquelle von JEM 2100F nutzt eine Schottky-Feldpistole mit Wolframfaden, die es ermöglicht, hochenergetische Elektronen schnell und effizient zu produzieren. Der beschleunigende Spannungsbereich liegt zwischen 5 und 20 kV, mit einer genauen Auflösung von +/- 0,1 V und einem Elektronenstrom von bis zu 0.9μA. Die Probe wird elektronisch durch 30kV-20μA Strahl abgetastet, der je nach Abbildungsobjektiv mit unterschiedlichen Auflösungen betrieben werden kann. Das SEM ist auch mit einer schnell abtastenden Bereichsdetektoroption ausgestattet, um die Bildgebungsgeschwindigkeit und -auflösung im Vergleich zu Standard High-Resolution (SHR) -Bildgebungsmodi zu verbessern. Die Abbildungssuite des Systems umfasst sowohl Hoch- als auch Tiefwinkelbildgebung, die Forschern eine Reihe von Möglichkeiten zur Ganzbild-Abbildung von Proben bietet. Darüber hinaus ermöglicht der Full-Auto Navigation (FAN) -Modus dem Benutzer, ohne manuelle Einstellung der Strahlposition und Bildverbesserung schnell und präzise auf jeden interessierenden Bereich der Probe zuzugreifen. Der FAN-Modus ist ideal für Anwender, die mit herkömmlichen SEM-Techniken interessante Bereiche tiefer als möglich erkunden möchten. JEOL JEM 2100F ist auch mit einer Reihe von erweiterten dedizierten Zubehörteilen ausgestattet, einschließlich einer ferngesteuerten Probenwechseleinheit, einem abgetrennten Bedienpult und einem automatisierten Beugungsabbildungssystem für die Kristallstrukturanalyse. Die optionalen Advanced-Beam-Alignment und Auto-Sampler-Module ermöglichen es dem Anwender, den Strahl präzise über die Probe mit computergesteuerter Leichtigkeit auszurichten und zu manövrieren. JEM 2100F ist ideal für Anwendungen wie die Querschnitts- und hochauflösende Bildgebung von Biomaterialien und die detaillierte Analyse von Nanomaterialien. JEOL JEM 2100F bietet mit seiner Fähigkeit zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse eine umfassende Rasterelektronenmikroskoplösung für Forscher, die volle Kontrolle und höchste Präzision bei der Untersuchung von Proben fordern.