Gebraucht JEOL JEM 2100F #9269139 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für analytische als auch für bildgebende Anwendungen ausgerüstet ist. Diese Ausrüstung wurde entwickelt, um eine routinemäßige Bildgebung in einer Vielzahl von Bereichen zu ermöglichen, einschließlich Materialwissenschaft, Life Science, Elektronik und Metallurgie. Das Mikroskop ist mit der bestehenden FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission Pistole für den Betrieb in hohen Energie- und Spannungsbereichen für hochauflösende bildgebende und analytische Anwendungen ausgestattet. JEM 2100F ist mit einer Digitalkamera und einem hochauflösenden Bildgebungssystem ausgestattet und bietet eine klare und detaillierte Bildauflösung bei geringen Vergrößerungen. Die FEI Everhart-Thornley Schottky Feldemissionskanone bietet eine erhöhte Elektronenstromdichte, was zu verbesserten Bildgebungsfähigkeiten führt. Darüber hinaus ermöglichen die In-Lens CsIS Imaging Unit und die In-Lens Electron Acceleration Voltage Modulation eine verbesserte Bildqualität und Elektronenkanonensteuerung. Die FEI Everhart-Thornley Schottky Feldemissionskanone kann mit einer Reihe von Energien von 1-30 kV betrieben werden, so dass der Betrieb bei niedrigen bis hohen Energien den jeweiligen bildgebenden oder analytischen Anforderungen entspricht. Die Pistole verfügt über eine hochauflösende digitale Bildgebung, die durch die CsIS In-Lens Imaging Machine ermöglicht wird und eine detaillierte Erfassung der Oberflächenmerkmale und eine hochauflösende Abbildung feiner topographischer Strukturen ermöglicht. JEOL JEM 2100F bietet auch eine Reihe von analytischen Fähigkeiten. Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) ist für die Elementaranalyse verfügbar und bietet eine schnelle Punktanalyse von Materialien. Darüber hinaus steht die Elektronen-Rückstreuung (EBSD) zur Legierungsidentifikation und Herstellung von Kristallorientierungsmapping zur Verfügung. Daten aus dem bildgebenden Werkzeug können auch für genaue 3D-Rekonstruktionen von Probenstrukturen verwendet werden, die eine Visualisierung von Volumenstrukturen ermöglichen. Schließlich ist JEM 2100F mit einer großen Stufe mit 5-Achsen-Bewegungssteuerung ausgestattet, die eine präzise Navigation von Proben ermöglicht. In Verbindung mit einer Vielzahl von Probenstummeln, Halterungen und Halterungen ermöglicht das Mikroskop Flexibilität für eine Reihe von Proben. Sobald Proben auf der Bühne sind, steht ein DEIpre Focus-Detection-Asset zur Verfügung, um interessante Bereiche für Bildgebung und Analyse genau zu lokalisieren.