Gebraucht JEOL JEM 2100F #9300950 zu verkaufen

JEOL JEM 2100F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) mit hohem Packungsgrad und hoher Auflösung. Es verfügt über eine überlegene Kombination von Bedingungen, die für zuverlässige und reproduzierbare Bildqualität optimiert sind. Das Mikroskop ist für eine optimale Leistung in niedrig- und hochauflösenden Studien sowie für die Abbildung jeder Oberflächenmorphologie ausgelegt. JEM 2100F verfügt über eine 10 keV FEG-Elektronenquelle mit einem In-Column-Energiefilter, Oben/Unten-Channeltron-Detektoren sowie einer beeindruckenden 35 mm breiten Probenkammer. Die FEG-Quelle behält eine sehr geringe Emission bei, so dass sie bei der Abbildung mit niedriger oder hoher Auflösung ein sehr gleichmäßiges Bild erzeugt. Es hat auch einen Abstrahlstrom, die Aufrechterhaltung der Leistung und Stabilität. Die Dual-EDS-Detektoren sorgen für eine schnelle und genaue Zusammensetzungsanalyse. Das Mikroskop ist mit einem dreidimensionalen, selbstausrichtenden System ausgestattet, das die Elektronensäule automatisch auf die Sinusspulen ausrichtet. Dies erleichtert auch die ordnungsgemäße Ausrichtung bei Bildern mit niedriger oder hoher Auflösung. Die große Blende macht es ideal für die Abbildung großer Flächen mit gleichmäßiger Abdeckung. Die Kombination einer hohen Vergrößerung mit geringem Arbeitsabstand verbessert die Bildqualität und Auflösung. JEOL JEM 2100F ist ein vielseitiges Instrument, das für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden kann. Es ist für die Abbildung einer Reihe von Probentypen konzipiert, darunter Zellen und Bakterien, Partikel und Fasern, dünne Filme und Schichtstrukturen, sowie eine Reihe von Materialien wie Metalle, Keramik und Verbundwerkstoffe. Es ist ideal für hochauflösende bildgebende, elementare und strukturelle Analysen. JEM 2100F bietet ausgezeichnete Bild- und Analysepräzision, schnellere Scanzeiten und überlegene Wiederholbarkeit. Die dualen Detektorsysteme ermöglichen eine schnellere Datenerfassung und eine verbesserte Auflösung als Einzeldetektorsysteme. Darüber hinaus sorgen der feine Fokus und die kleine Strahlstufenhöhe dafür, dass genaue und sehr detaillierte Bilder erhalten werden können. Insgesamt ist JEOL JEM 2100F ein unschätzbares Mikroskop für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben und Materialien. Es bietet überlegene Auflösung, hohe Geschwindigkeit Bildgebung und maximale Stabilität, so dass Benutzer die umfassenden Ergebnisse, die sie benötigen schnell und genau zu erhalten.