Gebraucht JEOL JEM 2200FS #293587150 zu verkaufen

JEOL JEM 2200FS ist ein innovatives Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und detaillierte Analysen von Proben zu erzeugen. Die hocheffiziente Elektronenoptik von JEM 2200FS bietet hochwertige Bilder mit einer ultimativen Auflösung von 1.2nm. Die hochauflösenden sekundären und rückgestreuten bildgebenden Funktionen ermöglichen eine präzise und detaillierte Charakterisierung der atomaren Eigenschaften der Probe. JEOL JEM 2200FS verwendet eine Feldemissionsquelle, die für hohe Helligkeit und geringe Geräuschpegel sorgt. Darüber hinaus ist der Sondenstrom zwischen 1pA und 10nA einstellbar, was eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen ermöglicht. Das Strahlablenksystem des SEM verwendet ein elektromagnetisches Feld mit einer gleichmäßigen Feldgröße und einem breiten Bereich von Ablenkwinkeln, um für jede Probe Neigung oder Drift zu korrigieren. Der Strahl-Scan-Modus und die Betriebssteuerung bieten eine beträchtliche Flexibilität bei der Steuerung der Elektronenstrahl-Parameter, was eine erstaunliche Auflösung und hohe Vergrößerung der Bildgebung ermöglicht. Die Probenkammer von JEM 2200FS kann eine Vielzahl von Proben aufnehmen, von konventionellen Proben bis zu 3D-Objekten und sogar biologischen Proben. Darüber hinaus ist dieses SEM mit einer Reihe von automatisierten Beschichtungssystemen für die Probenvorbereitung ausgestattet. Dieser automatisierte Prozess ermöglicht eine hohe Gleichmäßigkeit und Wiederholbarkeit, wodurch sichergestellt wird, dass die Proben ordnungsgemäß für die Analyse vorbereitet werden. Darüber hinaus unterstützt JEOL JEM 2200FS eine Vielzahl von Signaldetektoren, darunter einen Sekundärelektronendetektor, einen Rückstreuelektronendetektor, einen Signalelektronendetektor und einen energiedispersiven Röntgendetektor. Diese Detektoren sind so konzipiert, dass sie feine Details der Probenzusammensetzung erfassen und eine eingehende Analyse ermöglichen. Insgesamt ist JEM 2200FS eines der besten verfügbaren SEMs. Seine ausgezeichnete Elektronenoptik, erweiterte Erkennungsfunktionen, automatisierte Beschichtungssysteme und sein breites Spektrum an Leistungsmerkmalen machen es zu einer idealen Wahl für verschiedene Bildgebungs- und Analyseaufgaben.