Gebraucht JEOL JEM 2200FS #293587150 zu verkaufen
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ID: 293587150
Transmission Electron Microscope (TEM)
Performance parameters:
FEG with ZrO/W(100) Schottky emitter
Point resolution: 0.23 nm
Line resolution: 0.10 nm 3-stage
Intermediate lens system: 4-stage
Projective: 2-stage
Rotation-free imaging
Innovative goniometer with 5-axis position control
Piezo drive directions: X, Y
Sample holder system with double O-Ring seal and ultra-clean high vacuum pump
Cold trap
Automatic heating system
Sub-control systems: High voltage, goniometer, control panel
Vibration damping type: Air mount
Screenless operation via HDTV Camera system 1344 x 1024 pixels
EM-FS:
In-column filter system
(4) Sector magnets
Motor controlled 4-fold input panel
Energy filtering: TEM, STEM
Isochromaticity: <1 eV via 2k CCD Chip
Geometric distortion: <1 %
Detector resolution: used camera system
Spectra CCD Camera, Film-negative
Spectroscopy:
Filter energy resolution: <0.15 eV
EELS spectra speed: up to 50ms / Spektrum
Dispersion detector level: 50-400u/eV (at 200 kV)
GATAN UltraScan 1000 approx. 0.28-0.035 eV/pixel
Readout speed: up to 10 spectra/sec
Motor-controlled energy selection slot
702-70P-FEF:
GATAN In-column filter
Ratio map
704-00P: EELS analysis (704,00P)
EM-20590: Electrode short voltages 200 kV
EM-07320: Motorized lens hood for HR, HT, CR or HC pole shoe
EM-20360:
Motorized Hard X-Ray Aperture
EDX analysis for UHR Polschuh
JEM-2200FS:
STEM
Digital raster transmission unit
EM-20670: Primary jet catcher
EM-24580: Dark field imaging detector system, STEM
EM-24630UH:
Dark field imaging detector system
STEM, EELS
EM-21301: Piezoelement controlled
994.20P.2:
GATAN UltraScan1000XP
CCD Camera 2048 x 2048 pixels 100/200keV
Specification:
Sensor: 2048 x 2048 Pixels (à 14um) Full Frame CCD
Scintillator: HCRTM Phosphor scintillator (P+)
Coupling: HCRTM Fiber optics
Binning: 1x, 2x, 4x, 8x
Readout speed: 4.0Mpix/sec (4x1MHz)
Frame Rate: 5fps at 4x binning, 512 x 512 pixels
Digitization: 16Bit
Readout noise: <20CCDe- at 1MHz
MTF: 25% at 1/2 Nyquist (100kV), 17% at 12 Nyquist (200kV)
Cooling temperature: < -24°C
Camera head
UltraScan camera housings
TEM Adapter
Post-Specimen shutter control
lEEE1394b Computer interface
IBM-Compatible computer system
Fully motorized bezels
TFT Monitor
Operating system: Windows
Power supply: 80, 100, 120, 160, 200 kV
PC.
JEOL JEM 2200FS ist ein innovatives Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und detaillierte Analysen von Proben zu erzeugen. Die hocheffiziente Elektronenoptik von JEM 2200FS bietet hochwertige Bilder mit einer ultimativen Auflösung von 1.2nm. Die hochauflösenden sekundären und rückgestreuten bildgebenden Funktionen ermöglichen eine präzise und detaillierte Charakterisierung der atomaren Eigenschaften der Probe. JEOL JEM 2200FS verwendet eine Feldemissionsquelle, die für hohe Helligkeit und geringe Geräuschpegel sorgt. Darüber hinaus ist der Sondenstrom zwischen 1pA und 10nA einstellbar, was eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen ermöglicht. Das Strahlablenksystem des SEM verwendet ein elektromagnetisches Feld mit einer gleichmäßigen Feldgröße und einem breiten Bereich von Ablenkwinkeln, um für jede Probe Neigung oder Drift zu korrigieren. Der Strahl-Scan-Modus und die Betriebssteuerung bieten eine beträchtliche Flexibilität bei der Steuerung der Elektronenstrahl-Parameter, was eine erstaunliche Auflösung und hohe Vergrößerung der Bildgebung ermöglicht. Die Probenkammer von JEM 2200FS kann eine Vielzahl von Proben aufnehmen, von konventionellen Proben bis zu 3D-Objekten und sogar biologischen Proben. Darüber hinaus ist dieses SEM mit einer Reihe von automatisierten Beschichtungssystemen für die Probenvorbereitung ausgestattet. Dieser automatisierte Prozess ermöglicht eine hohe Gleichmäßigkeit und Wiederholbarkeit, wodurch sichergestellt wird, dass die Proben ordnungsgemäß für die Analyse vorbereitet werden. Darüber hinaus unterstützt JEOL JEM 2200FS eine Vielzahl von Signaldetektoren, darunter einen Sekundärelektronendetektor, einen Rückstreuelektronendetektor, einen Signalelektronendetektor und einen energiedispersiven Röntgendetektor. Diese Detektoren sind so konzipiert, dass sie feine Details der Probenzusammensetzung erfassen und eine eingehende Analyse ermöglichen. Insgesamt ist JEM 2200FS eines der besten verfügbaren SEMs. Seine ausgezeichnete Elektronenoptik, erweiterte Erkennungsfunktionen, automatisierte Beschichtungssysteme und sein breites Spektrum an Leistungsmerkmalen machen es zu einer idealen Wahl für verschiedene Bildgebungs- und Analyseaufgaben.
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