Gebraucht JEOL JEM 2200FS #293748666 zu verkaufen

ID: 293748666
Transmission Electron Microscope (TEM) STEM / EFTEM / EDS Mapping Probe corrector Energy filter (2) OXFORD INSTRUMENTS SDD: 80 mm Ultra scan camera.
JEOL JEM 2200FS ist ein Rasterelektronenmikroskop für überlegene Auflösung und Bildqualität. Es verwendet eine Feldemissionselektronenquelle, eine spezielle Art von Elektronenkanone, die stabilere Eigenschaften und eine höhere Leistung als eine Thermionkanone bietet. Das Gerät bietet eine hochenergetische Auflösung von bis zu 0,05 nm, und seine 1,2-nm-Punktgröße eignet sich hervorragend für bildgebende Prozesse. Seine analytischen Eigenschaften umfassen einen energiedispersiven Röntgendetektor, Energieverlustspektrometer und eine Reihe von Filtern, so dass Benutzer Proben mit einer Reihe von Techniken analysieren können. Darüber hinaus ist es mit einer Computersteuerung mit einem 3D-Probenhalter ausgestattet, um eine präzise Bewegung in drei getrennten Achsen zu ermöglichen. JEM 2200FS ist auch für die Sicherheit konzipiert, mit einem digital gesteuerten, geschlossenen Kreistrockenpumpensystem, was bedeutet, dass kein Probenabbau durch wesentliche Vakuumoperationen auftritt. Dies, gepaart mit seinem geschlossenen Design, bietet großen Probenschutz. Das Mikroskop verfügt über eine Reihe von zusätzlichen Funktionen, wie eine kontrastreiche SE- und BSE-Bühne, digitale Bildgebung und automatisches Nivellieren und MIEF-Bildgebungsmodus. Seine digitale Bildgebungseinheit macht es auch in der Lage, schnell Kristallstrukturbilder auszuschöpfen. Insgesamt ist dieses Instrument ideal für die Probenoberflächenbildgebung, die Nanometermessung, die polykristalline Materialstudie sowie die Mikroanalyse von Metall, Halbleiter und organischem Material. Es eignet sich für eine Reihe von Bereichen in der Materialwissenschaft, Life Science, Engineering und mehr. Dank seiner Eigenschaften wird es bei Forschern und industriellen Anwendern immer beliebter.
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