Gebraucht JEOL JEM 2500SE #9257409 zu verkaufen

JEOL JEM 2500SE ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen entwickelt wurde. Bei diesem Modell handelt es sich um eine hochmoderne bildgebende Ausrüstung mit hoher Auflösung, hoher Helligkeit und Analyse von Proben sowohl im Feldemissions- als auch im Thermo-/Feldemissionsmodus. Es verfügt über eine Vielzahl von Funktionen zur Verbesserung der Benutzererfahrung, wie überlegene optische Leistung, große Schärfentiefe und präzise Ausrichtung des bildgebenden Systems. Diese Kombination aus Funktionen und Technologien bietet beispiellose Bildgebungs- und Analysefunktionen. Die optische Einheit von JEM 2500SE wird um eine monokulare Säule gebaut, die Hochleistungs-Bildgebungs- und Analysefähigkeiten liefert. Es verfügt über eine Wolfram-Anode-Röntgenquelle und eine 18-Strahl-Scanning-Maschine für die höchste Auflösung Bildgebung. Dies wird mit einer Feldemissionselektronenkanone mit hoher elektrostatischer Stabilität kombiniert, wodurch die höchste Bildhelligkeit erreicht wird. Dies wird durch ein großes Tiefenschärfewerkzeug ergänzt, das es ermöglicht, Objekte unterschiedlicher Höhe innerhalb einer Probe abzubilden, ohne die Probe zu bewegen. Schließlich gibt es ein automatisiertes Sample Alignment Asset, das eine präzise Ausrichtung des bildgebenden Modells gewährleistet. JEOL JEM 2500SE ist in der Lage, Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1,0 nm im Sekundärelektronenmodus und 0,7 nm im Rückstreuelektronenmodus zu erzeugen. Dies macht es perfekt für die Beobachtung und Analyse von feinen Strukturen und sogar einzelnen Molekülen. Darüber hinaus kann diese Abbildungseinrichtung aufgrund ihres Niederspannungsbetriebs das Vorhandensein von Spurenelementen in der Probe mit einer hohen Empfindlichkeit erkennen. Das Abbildungssystem von JEM 2500SE ist mit benutzerfreundlicher Software zur Bildverarbeitung und Analyse von Proben ausgestattet. Diese Funktionen bieten eine breite Palette automatisierter Funktionen, die die Aufgabe des Benutzers erheblich vereinfachen. Darüber hinaus ist es in der Lage, Live-Bild-Präsentation, sowie die Integration in andere Bildgebungs- und Analysesysteme. Bei der Probenvorbereitung bietet JEOL JEM 2500SE mehrere Möglichkeiten der Probenvorbereitung. Es ist sowohl mit SEM-Gittern als auch mit SEM-Musterhaltern kompatibel. Darüber hinaus verfügt es über eine optionale Umwelt-SEM-Probenkammer mit integrierten Temperatur-, Gas- und Feuchtigkeitskontrollen. Schließlich weist sie zur Maximierung der Probenlebensdauer noch ein Stabilisierungsmerkmal auf, das die Probenhalterposition vor der Bildgebung beibehält. Insgesamt ist JEM 2500SE ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das für eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen entwickelt wurde. Seine Eigenschaften und Technologien machen es ideal für hochauflösende Bildgebung, Analyse von Spurenelementen und Sub-Nanometer-Auflösung Bildgebung. Seine benutzerfreundlichen Funktionen und automatisierten Funktionen vereinfachen die Aufgabe der Benutzer, während seine Probenvorbereitung/Handhabung Optionen maximale Probe Lebensdauer bieten.