Gebraucht JEOL JEM 2500SE #9373226 zu verkaufen

JEOL JEM 2500SE ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende bildgebende und analytische Anwendungen. Es ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die eine helle Elektronenquelle für Inspektion und Analyse liefert. Die FEG-Elektronenquelle besteht aus einer Reihe von bipolaren Emittern, die die Lebensdauer der Quelle verlängern und zuverlässige Qualitätsbilder liefern. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, darunter ein sekundärer Elektronendetektor (SE), ein rückgestreuter Elektronendetektor (BSE) und ein energiedispersiver Spektroskopiedetektor (EDS). Alle Detektoren bieten ausgezeichnete Bildqualität und hohe Empfindlichkeit. JEM 2500SE verfügt über erweiterte bildgebende Funktionen, die die Abbildung einer Vielzahl von Proben ermöglichen. Das einstellbare SE-Erkennungssystem ermöglicht es dem Benutzer, den am besten geeigneten Bildgebungsmodus auszuwählen, während die große Schärfentiefe dem Benutzer die Möglichkeit gibt, Bilder verschiedener Bereiche innerhalb desselben Objekts zu erfassen. Die vorjustierte FEG-Elektronenquelle und die Wolter-Optik halten die Bildqualität während der Scan- und Fokuseinstellung konsistent. Der kippbare Probenhalter ist in der Lage, hochrestliche Kippen und genaue Bildmodulation, so dass die Beobachtung von feinen Strukturen in drei Dimensionen. Die geschlossene Arbeitskammer von JEOL JEM 2500SE ermöglicht es Anwendern, mit einer Vielzahl von Proben zu arbeiten, ohne die Vakuumbedingungen zu beeinträchtigen. Die Kammer ist so ausgelegt, dass die Verunreinigung der Probe und des Detektors minimiert wird, wodurch Beschädigungen der Probe vermieden werden. Die digitalen Regler passen die Beschleunigungsspannung genau an und sorgen auch bei maximalen Vergrößerungen für eine maximale Auflösung der Bilder. Darüber hinaus verfügt das automatisierte Navigationssystem über eine Hochleistungskamera zur einfachen Navigation im Prüfling. JEOL JEM 2500S ist in der Lage, eine breite Palette von analytischen Techniken wie Partikelanalyse, Elementaranalyse, Phasenanalyse und Elementarkartierung durchzuführen. Der EDS-Detektor bestimmt genau die elementare Zusammensetzung der Probe, während der Phasendetektor es dem Benutzer ermöglicht, die Phasenverteilung der Probe zu identifizieren. Darüber hinaus ist JEM 2500SE in der Lage, Proben mit seinem Backscattered Detector zu vermessen und anhand der Umfrageergebnisse einen Bericht zu erstellen. JEOL JEM 2500SE ist auch mit einfach zu bedienender Software ausgestattet, die Anwendern Zugriff auf alle bildgebenden und analytischen Parameter bietet. Die intuitive benutzerfreundliche Benutzeroberfläche und leistungsstarke Programme ermöglichen es Benutzern, ihre Mikroskopeinstellungen an ihre spezifischen Bedürfnisse anzupassen. Die gesamte Datenerfassung und -analyse kann mit JEM 2500SE schnell und effizient durchgeführt werden.