Gebraucht JEOL JEM 3000F #9267278 zu verkaufen

JEOL JEM-3000F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine außergewöhnliche Auflösung und Leistung bietet. Es verfügt über eine Elektronenmikroskopsäule, eine Kammer- und Strahlablenkeinrichtung, Probenstufen und ein Detektorsystem. Die Säule zeigt eine hohe Frequenz von 2.3keV, Beschleunigungsspannung bis 30 kV und eine Feldemissionsquelle mit Fokusregelung. Dies ermöglicht eine größere Flexibilität für Elektronenstrahloperatoren und ermöglicht höherauflösende Bilder. Die Kammer der JEM-3000F wird mit einem inerten Gas unter Druck gesetzt, um die Menge der Probenkontamination zu mildern und bietet eine bildgebende Umgebung, die der Klarheit förderlich ist. Außerdem verfügt die Säule über eine Strahlablenkeinheit zur Verbesserung der Stabilität und Genauigkeit der Abtast- und Abbildungsprobe. Die Beispielstufen werden in verschiedenen Modi durchgeführt: Neigungs-/Rotationsbewegungen, Rastermodus, Bereichsscan und Point Scan-Modus. Diese alle tragen zur Vielseitigkeit von JEOL JEM-3000F bei und bieten eine Vielzahl von bildgebenden Techniken. Die Detektormaschine ist mit einem Gold-S-Typ Sekundärelektronendetektoren ausgestattet, um topographische Bilder zu erhalten, und ein CEOS-Detektor ermöglicht eine kontrastreiche Abbildung der lokalisierten Oberflächenzusammensetzungen. Darüber hinaus verfügt JEM-3000F über eine In-Column EDX-Einheit, die mit 5,2 μ m-100 μ m Öffnungen, Vorproben- und Nachprobendetektoren ausgestattet ist. Dies ermöglicht eine elementare Identifizierung, die für die kristallographische und atomare Strukturidentifikation von mit dem Mikroskop betrachteten Proben nützlich ist. Aufgrund der hohen Spezifikation von JEOL JEM-3000F und den vielen Funktionen ist es ein außergewöhnliches SEM. Die hohe Flexibilität, die Probenstufen und das Detektionswerkzeug tragen dazu bei, dass dies die ideale Wahl für verschiedene bildgebende Anwendungen ist. Die Vielseitigkeit von JEM-3000F für Bildgebung und Analyse macht es zu einem nützlichen Werkzeug für Wissenschaftler und Forscher gleichermaßen.