Gebraucht JEOL JEM 3010 #9376084 zu verkaufen

JEOL JEM 3010 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Industrie- und Forschungsanwendungen. Es ist in der Lage, Bildauflösungen bis zu 1,2 nm zu erreichen, was zu extrem detaillierten Bildern von Oberflächen und Strukturen führt. JEM 3010 ist mit einer Hochleistungs-Elektronensonde ausgestattet, die eine überlegene Bildtiefe und ein überlegenes Signal-Rausch-Verhältnis ermöglicht, insbesondere für Anwendungen mit niedrigen kV-Werten. JEOL JEM 3010 hat ein großes, hochstabiles Polepiece und eine Weitwinkel-Elektronenkanone, die eine überlegene Elektronenstrahlqualität und feste Stabilität über eine breite Palette von Betriebsbedingungen bietet. Dieser Aufbau ermöglicht es JEM 3010, einen konstanten Strahlstrom und eine beschleunigte Spannung auch während längerer Beobachtungsperioden aufrechtzuerhalten. Die JEOL JEM 3010 ist instrumentell mit einem digitalen Hochgeschwindigkeitsbildsystem ausgestattet, das eine schnelle und zuverlässige Bilderfassung ermöglicht. Darüber hinaus ist es mit einem integrierten, vollautomatisierten, linsenlosen digitalen Bildgebungssystem ausgestattet, das die Bildgebungszeit verkürzt und den verfügbaren Platz optimal nutzt. Für die Proben- und Probenanalyse ist JEM 3010 mit einem automatisierten Probenahmesystem ausgestattet, das eine kontrollierte Positionierung von Proben auf der Untersuchungsstufe ermöglicht. Es hat auch einen integrierten EDX-Detektor, der die Energie und die Anzahl der Elektronen misst, die die Probe erreichen. Dies ermöglicht eine genaue elementare Analyse von Proben, wodurch JEOL JEM 3010 für die Qualitätskontrolle und Prozessüberwachung geeignet ist. JEM 3010 bietet auch zusätzliche Funktionen wie einen eingebauten Videomonitor, eine automatisierte Bühnensteuerung, eingebaute Partikelgrößenanalysesysteme und optionales Zubehör für Probenätzen und Elektrochemie vor Ort. All diese Eigenschaften machen JEOL JEM 3010 zu einem leistungsstarken und vielseitigen Werkzeug für Industrie- und Forschungsanwendungen.