Gebraucht JEOL JEM 3200FS #293796361 zu verkaufen

JEOL JEM 3200FS ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das hochauflösende Bildgebung sowie fortschrittliche Analysetechniken in einem einzigen Instrument kombiniert. Die fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefunktionen von JEM 3200FS werden durch seine Kaltfeld-Emissionselektronenquelle ermöglicht, die einen extrem aberrationsarmen Elektronenstrahl und sein revolutionäres neues Signalkanaldesign erzeugt. Auf diese Weise können JEOL JEM 3200FS hochauflösende Bilder und überlegene Analyseergebnisse erzielen. Die Kaltfeld-Emissionsquelle ermöglicht es JEM- 3200FS auch, Umgebungsvibrationen und Drift für die ultimative Bildstabilität zu minimieren. JEOL JEM 3200FS bietet eine Vielzahl von Untersuchungsmodi, einschließlich SE (sekundäre Elektronen) Bildgebung, BSEM (rückgestreute Elektronen) Abbildung, Beugung Kontrast Bildgebung, Kathodolumineszenz (CL), und Umwelt Rasterelektronenmikroskopie (ESEM EM). Es kann auch nicht-leitende Proben im echten SE-Modus ohne Kohlenstoffbeschichtung und schwierig, Proben im Niedervakuum (LV) -Modus abzubilden. Zu den analytischen Fähigkeiten von JEM 3200FS gehören energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), Röntgenfluoreszenz (XRF) -Mapping, Elektronenrückstreuung (EBSD), EDS Chemistry Imaging, Energy Filter Imaging (EFI) und Wasser JEOL JEM 3200FS ist mit einem kompletten Sortiment an Kammerzubehör ausgestattet, darunter ein ESD/TEM-Vollsortimenter, Faraday-Becher, HF-Extraktor und ein elektrostatisches Spannfutter, das Proben verschiedener Größen und Formen aufnehmen kann. Das Kammerzubehör garantiert effizienteste und präzise Messungen und bietet eine ideale Plattform für eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysetechniken. JEM 3200FS verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) und eine automatisierte Bedienung durch die integrierte „intelligente Steuerung“. So können Anwender komplexe Experimente mühelos ausführen und die Verarbeitung großer Datenmengen mit einfachen Befehlen vereinfachen. JEOL JEM 3200FS bietet auch eine Reihe von computerbezogenen Funktionen, einschließlich Echtzeit-Betriebskontrolle, auf dem Bildschirm Vorschau der Funktionsoptionen, und automatische Aufzeichnung und Wiedergabe Dienstprogramme. Zusätzlich zu diesen Funktionen bietet JEM 3200FS ein Netzwerksystem zur Unterstützung mehrerer Benutzer. Insgesamt ist JEOL JEM 3200FS ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bildgebungs- und erweiterte Analysefunktionen in einem Instrument kombiniert. Fortschrittliche Bildgebungstechniken mit ausgezeichneten Auflösungen und hoher Schärfentiefe machen JEM 3200FS zu einem idealen Werkzeug für die Untersuchung der Struktur und Zusammensetzung der komplexesten Proben.