Gebraucht JEOL JEM 3200FS #9281736 zu verkaufen

JEOL JEM 3200FS ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Kaltfeld-Emissionselektronenkanone verwendet, um hochauflösende Bilder und Daten zu erfassen. Die Kaltfeld-Emissionskanone ermöglicht es der Technologie, im Laufe der Zeit stabil zu bleiben und so konsistente und zuverlässige Bilder zu liefern. Das SEM erzeugt hochauflösende Bilder aus einer so kleinen Probe wie ein einzelnes Nanometer und bietet eine automatische Steuerung sowohl der einfallenden als auch der sekundären Elektronen für eine optimale Auflösung und Rauschreduzierung. Um Ladeeffekte zu minimieren, verwendet das SEM ein integriertes Niedrigvakuumsystem. Darüber hinaus verwenden die drei kreisförmigen Elektronenkanonen-Linsen magnetische Elektronenoptiken, um eine höhere Auflösung zu erzielen und gleichzeitig einen ausgezeichneten Bildkontrast und eine große Schärfentiefe zu bieten. JEM 3200FS verfügt über eine Vielzahl von Funktionen zur Analyse der Dual-Strahl-Rasterelektronenmikroskopie (DB-SEM), einschließlich einer Hochdruck-Schnellproben-Transferkammer, einer Hochgeschwindigkeits-Bildgebungsoption und Probenstufenkontrollen. Mit diesen KEs kann das SEM eine Vielzahl von Beispielkomponenten wie Ebenen, Kanten und Berandungen abbilden. Das SEM kann verwendet werden, um hochauflösende zerstörungsfreie 3D-Analyse, Elektronen-Rückstreuung (EBSD), Elektronenstrahl induzierten Strom (EBIC) und Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) Techniken zu analysieren. Das EDS macht die Elementaranalyse einfacher, da es elementare Komponenten auf 0,1 Prozent oder weniger erkennt und quantifiziert. JEOL JEM 3200FS ist auch in der Lage, Linien- und Winkelabtastung, zelluläre Zuordnung und Bildnähte. Das Mikroskop ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die eine Vielzahl von Bedienungsmenüs enthält, sodass Benutzer auf verschiedene Einstellungen und Parameter zugreifen können. Die Software kann auch für Fernbedienung und Ferndatenerfassung aus der Ferne verwendet werden. Insgesamt bietet JEM 3200FS hochauflösende Bildgebung, erweiterte Funktionen für die Dual-Strahl-Rasterelektronenmikroskopie und intuitive Software für den Fernbetrieb und die Datenerfassung. Mit seiner Elektronenkanone für die Kaltfeldemission ermöglicht das SEM zuverlässige und konsistente Bilder. Als solche eignet sich diese Technologie ideal für die Abbildung einer Vielzahl von Proben auf Nanometerebene und für die Durchführung einer Vielzahl von Elementaranalysen.