Gebraucht JEOL JEM 3200FS #9293906 zu verkaufen

JEOL JEM 3200FS ist ein ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Abbildung einer Vielzahl von Materialien verwendet wird. Dieses Instrument wurde mit Beiträgen verschiedener Branchen entwickelt, um die bildgebenden Fähigkeiten zu verbessern. Es bietet Benutzern aufgrund seiner hohen Auflösung und Benutzerfreundlichkeit eine unvergleichliche Leistung. JEM 3200FS bietet eine breite Palette von bildgebenden Modi, einschließlich Standard-SEM-Bildgebung, Metallographie mit niedrigem Vakuum-Modus und rückgestreute Elektronen (BSE) Bildgebung. Es verfügt auch über eine große Scanfläche und ist in der Lage, höhere Vergrößerungen als seine Vorgänger zu erreichen. JEOL JEM 3200FS ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die variable Druck- und Beschleunigungsspannungen ermöglicht. Dies macht das System effizienter und erhöht sowohl die Bildauflösung als auch die Probensicherheit. Darüber hinaus ermöglicht die FEG die Abbildung bei einem höheren Elektronenstrom und bietet eine verbesserte Detektion dünner Schichten sowie einen größeren Kontrast in Bildern. Das Instrument ist auch mit hochauflösender Optik ausgestattet, darunter ein Dual-Achsen-Goniometer und ein Autofokus-System. Diese bieten eine präzise Kontrolle und höhere Genauigkeit bei der Aufnahme von Bildern. Das SEM verfügt auch über erweiterte Dunkelfeld- und verzögerte Bildgebungsfunktionen, so dass Bilder mit hohem Kontrast schnell und präzise erhalten werden können. JEM 3200FS ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Instrument, das für eine breite Palette von Bildinformationen entwickelt wurde. Es bietet hochauflösende Bildgebung und eine breite Palette von Funktionen, so dass es eine ideale Wahl für jede Forschung, insbesondere in Bereichen wie Materialwissenschaft.