Gebraucht JEOL JEM 5510 LV #293602478 zu verkaufen

JEOL JEM 5510 LV Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Instrument, das extrem hochauflösende Bildgebung und Oberflächenanalyse ermöglicht. Es ist die ideale Wahl für Forscher, die beispiellose Details in ihrer Abbildung einer Vielzahl von Partikel- und Materialtypen erreichen möchten. JEM 5510 LV verfügt über eine breite Palette von Funktionen, mit denen Forscher ihre Bildgebung an die spezifische Anwendung anpassen können. Die hochauflösende Abbildung von JEOL JEM 5510 LV wird durch die Verwendung eines In-Linsen-Säulendesigns und einer Elektronenquelle mit hoher Helligkeit erreicht. Diese Elektronenquelle, kombiniert mit dem dynamischen Fokussiersystem, bietet eine unglaublich große Palette von Vergrößerungen von 10X bis 2,000,000X. JEM 5510 LV bietet auch eine Reihe von Abbildungsmodi wie Scannen, sekundäre Elektronenbildgebung und rückgestreute Elektronenbildgebung. Weitere bildgebende Funktionen umfassen 4-Achsen-Probenstufe, 4-Quadranten-Detektor, automatisierte Z-Distanz und Zwei-Achsen-Neigung für großflächige Bildgebung und Neigungsserien. JEOL JEM 5510 LV verfügt auch über eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, die die leistungsstarke Bildgebung nutzen, einschließlich fortschrittlicher energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) und automatisierter Zeilenabtastmapping mit Elementarerkennung. Mit dem EDS von JEM 5510 LV sind Forscher in der Lage, elementare Verteilungen zu analysieren und die Heterogenität auf Mikron- und Submikronebene zu bestimmen. Das automatisierte Line-Scan-Mapping mit Elemental-Erkennung macht es einfach, topographische Verteilungen zu erstellen und in jedem Pixel vorhandene Elemente zu identifizieren. Zur Optimierung von Partikelbildern und Analyse ist JEOL JEM 5510 LV mit einer umfangreichen Palette von Kontrastverbesserungswerkzeugen ausgestattet. JEM 5510 LV umfasst Funktionen wie automatisierten stigmatischen und astigmatischen Kontrast, automatisierte stigmatische Erkennung und Minimierung sowie verschiedene Tools zur automatisierten Signalverbesserung. Darüber hinaus kann JEOL JEM 5510 LV mit fortschrittlichen Mikroskopiesystemen wie Elektronenrückstreuung und energiedispersiver Röntgenaufnahme integriert werden. JEM 5510 LV Rasterelektronenmikroskop ist eine ausgezeichnete Wahl für Forscher, die hochwertige Bilder und detaillierte Partikel- und Materialanalysen benötigen. Mit seiner breiten Palette von Funktionen können Benutzer ihre Proben auf Nano- und Mikron-Ebene mit beispiellosen Details erkunden.