Gebraucht JEOL JEM 9310 #293671410 zu verkaufen

JEOL JEM 9310
ID: 293671410
Weinlese: 2008
Focused Ion Beam (FIB) system 2008 vintage.
JEOL JEM 9310 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Forschern hochauflösende Bildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen bietet. Dieses Gerät ist mit zwei Hochleistungs-Elektronenkanonen-Systemen und einer variablen Drucksäule ausgestattet, so dass Benutzer Proben mit überlegener Auflösung und Qualität untersuchen können. Die variable Drucksäule sorgt für ein breites Spektrum an experimentellen Drücken (bis 10-4Torr), die für die Arbeit mit UNCD/CNT-Materialien und anderen empfindlichen Proben notwendig sind. JEM 9310 ist auch mit einem Kaltfeld-Emissionssystem ausgestattet, das ein sauberes, kontrastarmes Signal liefert und Hochgenauigkeitsbilder mit unübertroffener Klarheit und Detailtreue gewährleistet. Dieses SEM kann in einer Vielzahl von bildgebenden Anwendungen verwendet werden, einschließlich Oberflächentopographie, Phasenverschiebungen, Zusammensetzungsmapping, 3D-Bildtomographie, Probenprobenanalyse und vieles mehr. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen ermöglicht JEOL JEM 9310 es Forschern, extrem feine Funktionen mit einer Auflösung von 1,5 nm im Sekundärelektronenmodus und 7 nm im rückgestreuten Elektronenmodus zu visualisieren. Darüber hinaus bietet das Instrument erweiterte Positionskorrektur und Bildsteigerungsoptionen, um Bilder von höchster Qualität zu gewährleisten. JEM 9310 ist auch mit mehreren peripheren Komponenten ausgestattet, wie einem analytischen Transferziel, einer Probenkamera, Spektroskopie-Systemen und mehr, so dass Forscher eine Vielzahl von Versuchen mit Leichtigkeit durchführen können. Die kompakte Bauweise und die geringen Betriebskosten machen dieses SEM zu einer großartigen Option für Labore jeder Größe. Alles in allem ist JEOL JEM 9310 eine gute Wahl für Forscher, die hochwertige Bilder mit überlegener Auflösung und Genauigkeit erhalten möchten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor