Gebraucht JEOL JEM F200 #293597811 zu verkaufen

JEOL JEM F200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das eine Feldemissionselektronenquelle bereitstellt, die hochauflösende Bildgebung erzeugt und vergrößerte Bilder von Probenstrukturen bei Auflösungen von bis zu 5 Nanometern ermöglicht. Als moderne SEM-Ausrüstung bietet JEM F200 eine breite Palette von Fähigkeiten und Optionen, so dass es für eine Reihe von Anwendungen und Proben geeignet ist. JEOL JEM F200 hat eine Beschleunigungsspannung von bis zu 300 kV und eine Auflösung von 5 nm bei einem Arbeitsabstand von 3 mm. Ein in-column, Kondensator-Linsen-Strahl-Ausblendsystem bietet dynamischen Kontrast für die Strahlanalyse von Objekten, mit einer Kombination aus beschleunigender Spannung, Detektorauswahl und Strahlausblendung. Der Strahlstrom kann von 0,1 pA bis 20-40 nA eingestellt werden, und mit einer Hochtreue-Pistole sind niedrige Ströme von 1-2 pA möglich. JEM verwendet F200 eine elektronenoptische Säule, wobei sowohl achromatische als auch ringförmige Felder standardmäßig enthalten sind. Vier eingebaute Entdecker sind, einschließlich eines Everhart-Thornleys sekundärer Elektronentdecker, ein Rückstreuungselektronentdecker des Wolframs/Rheniums, ein übersandter Energieentdecker und eine BSE Entdecker verfügbar. JEOL JEM F200 bietet schnelle Bildgebung mit niedrigem Probendrift und die optionale Punktabtaststufe ermöglicht die Erfassung von Bildern im Nanometermaßstab. Eine automatisierte Probenstufe ermöglicht eine einfache und effiziente Probenbeladung und die Mehrpositions-Stifthalter-Probenstufe ermöglicht eine einfache Probenzentrierung. Es gibt auch eine Dunkelraum-Portabdeckung und eine Waffenkammerabdeckung für Benutzer, die in Ultra-Low-Vakuum-Umgebungen arbeiten, wie zum Beispiel für Freeze-Fracture Replication. JEM F200 umfasst auch eine Vielzahl automatisierter Funktionen wie Phasenverschiebungsscannen und Zeitraffererfassung. Die eingebauten Computer verfügen über einen Hochgeschwindigkeits-Einzelprozessor, der eine Reihe von Abbildungsmodi, automatisierten Betrieb und Steuerung von Geräteparametern bietet. Die Temperaturregelmaschine bietet Temperaturregelung mit +/- 0,5 Grad Celsius Präzision und Vollautomatisierung. Insgesamt verfügt JEOL JEM F200 über hochpräzise Bildgebung und automatisierten Betrieb, so dass es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen einschließlich biologischer, industrieller und Forschungseinstellungen ist. Dieses Tool ist in der Lage, eine extrem hochauflösende Bildgebung mit bis zu 5 Nanometern zu erzeugen und bietet dank der eingebauten Detektoren, der automatisierten Probenphase und der automatisierten Funktionen eine hervorragende Funktionalität.