Gebraucht JEOL JFD 310 #9078437 zu verkaufen

JEOL JFD 310 ist ein kompaktes Rasterelektronenmikroskop, mit dem Benutzer Oberflächenmerkmale von Proben bei Vergrößerungsgraden bis zu 160.000x beobachten können. Das Gerät ist mit einem In-Linsen-Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der einen Standard-Everhart-Thornley-Detektor verdrängt und eine höhere Auflösung in der Bildgebung bietet. Mit einem hocheffizienten Verzerrungskorrekturgerät eliminiert JFD 310 geometrische Verformungen und erzeugt ein klares, zusammenhängendes Bild zur Beobachtung. Das Mikroskop verwendet einen Elektronenstrahl, um die Probe zu durchlaufen und aus reflektierten Elektronen, die vom Detektor aufgenommen werden, ein hochauflösendes Bild zu erzeugen. Ein Dual-Ablenksystem ermöglicht es, den Strahl genau zu zielen, während eine integrierte Niederspannungsoptik es Forschern ermöglicht, Spill-off-Elektronen für weitere Untersuchungen und Analysen zu verwenden. Die Einheit verfügt außerdem über eine Differentialpumpeinheit, die eine eigene Sekundärelektronendetektorvakuummaschine zur Probentransfer-/-untersuchung verwendet, sowie über eine Flexibilität, die eine sequentielle Übertragung von Proben von Nieder- auf Hochvakuum ermöglicht. Nach vielen erweiterten Funktionen bietet JEOL JFD 310 ein für dieses Modell maßgeschneidertes Magnet-Objektivabweiser-Werkzeug, das eine verbesserte Widerstandsfähigkeit gegen Fehlausrichtung ermöglicht. Während die mechanische Hochgeschwindigkeits-Abtasteinrichtung eine verspiegelte Oberfläche auf dem Probensubstrat erzeugt, wirkt der eingebaute Ladungsneutralisator dem abstoßenden Effekt zwischen Probe und Elektronenstrahl entgegen. Darüber hinaus machen die digitalen Feinfokus- und Parametersuchfunktionen das Arbeiten mit dem Mikroskop einfacher und die gesammelten Daten präziser. Das Mikroskop umfasst auch einen integrierten PC und Datenspeicher, der es Benutzern ermöglicht, gesammelte Bilder vor Ort zu bewegen und zu manipulieren. Ausgestattet mit einer Dunkelkammer ist JFD 310 ideal für die Untersuchung von biologischen Proben bis hin zu Halbleitermaterialien. Um die Forschung zu unterstützen, bietet das Gerät darüber hinaus ein Farbüberwachungsgerät mit 12-Bit-Auflösung, maßgeschneidert für JEOL JFD 310. Insgesamt ermöglicht JFD 310 es Forschern, Proben mit hoher Auflösung und Effizienz in der Elektronenmikroskopumgebung zu beobachten. Dieses leistungsstarke Rasterelektronenmikroskop bietet fortschrittliche Funktionen und eine stellare Bildauflösung und ist ein ideales Werkzeug für eine Reihe wissenschaftlicher Bereiche.