Gebraucht JEOL JFIB 2300 #293671426 zu verkaufen

JEOL JFIB 2300 ist ein fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM), das zur Analyse von Materialien und zur Erzeugung hochauflösender Querschnittsbilder für die materialwissenschaftliche Forschung verwendet wird. Es kann für eine Vielzahl von Anwendungen wie Analyse und bildgebende Isolatoren, Metalle, biologische Materialien und Nanomaterialien verwendet werden. JFIB 2300 kombiniert eine integrierte 300kV FIB-Säule mit einem Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), um Materialien effizient und präzise abzubilden und zu analysieren. Es hat eine ultra-hochauflösende Ionensäule, die Ionen bis 300kV beschleunigen kann, und einen fokussierten Ionenstrahl (FIB) mit einer Auflösung von 50 bis 200 nm. Dies ist ideal für die Bildgebung und Charakterisierung von Nanostrukturen. JEOL JFIB 2300 verfügt über eine Vielzahl von Zubehör, darunter eine Ionenquelle, Sekundärelektronendetektor, Hochwinkel-Ringdetektor (HAADF), Rückstreuelektronendetektor (BSE), analoge und digitale Bildprozessoren und verschiedene Oberflächenbehandlungssysteme. Es ist auch mit einem Kryo-Proben-Halter für Cryo-Fracturing und Cryo-Micromachining ausgestattet. Das System ist mit dem JVP-Softwarepaket ausgestattet, das die Verarbeitung von Bildern mit hoher Geschwindigkeit zur Bildkontrastverbesserung und Bildschärfung ermöglicht. Es ist in der Lage, dreidimensionale Bilder zu erzeugen, indem es Fräsen und Bildgebung sowie Mikrotomographie und Bildnähte kombiniert. JFIB 2300 ist ein leistungsstarkes, vielseitiges FIB-SEM-Tool. Seine hohe Auflösung macht es zu einer idealen Wahl für die Bildgebung und Charakterisierung von Strukturen auf der Nanometergrößenskala. Es eignet sich für eine breite Palette von wissenschaftlichen und technischen Forschungsanwendungen, wie nanoskalige Wissenschaft, Materialwissenschaft und biologische Probenanalyse.