Gebraucht JEOL JFIB 2300 #9207231 zu verkaufen

JEOL JFIB 2300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das es Forschern ermöglicht, die mikroskopische Morphologie von Proben im Detail zu untersuchen. Das Mikroskop wird von einem fokussierten Ionenstrahl (FIB) und einem Rasterelektronenstrahl (SEB) angetrieben, die zusammenarbeiten, um ein hoch detailliertes Bild zu erzeugen. Die FIB verfügt über eine breite Palette von Einstellungen für die Einstellbarkeit, so dass Benutzer in der Helligkeit und Zoom auf Niveaus so niedrig wie 1 nm einwählen. Der Ionenstrahl liefert einen sehr hochauflösenden topographischen Scan von Oberflächenmerkmalen bis zur atomaren Ebene, und das SEM liefert ein ausgezeichnetes Bild von der Oberfläche bis zu einer Tiefe von 10 μ m in der Probe. JFIB 2300 bietet eine breite Palette von Funktionen, die es zu einem unverzichtbaren Werkzeug im Labor machen. Das Mikroskop ist in der Lage, aus der Oberfläche der Probe ein hochauflösendes 3D-Bild zu erzeugen, das für die Untersuchung sehr kleiner Merkmale wichtig ist. Der Doppelstrahl des Mikroskops ermöglicht die gleichzeitige Aufnahme von Bildern sowohl der Probe als auch des Hintergrundes, was einen verbesserten Kontrast und eine verbesserte Auflösung ermöglicht. Zusätzlich können die Abbildungs- und Neigungssteuerungssysteme des Mikroskops so eingestellt werden, dass hochdetaillierte Bilder schnell und präzise erzeugt werden. Die hohe Genauigkeit des Mikroskops wird auf sein Autofokussiersystem und seine breite Palette von Detektorgeometrieeinstellungen zurückgeführt. So können Forscher selbst kleinste Details mit großer Präzision beobachten. Zusätzlich ist das Mikroskop mit einem In-Column-Energiefilter ausgestattet, mit dem Energiespektren optimiert sowie Kontrast und Auflösung in SEM-Bildern erhöht werden können. Die hochwertige automatisierte Probenvorbereitung von JEOL JFIB 2300 ist auch im Forschungslabor von unschätzbarem Wert. Es umfasst eine automatisierte Probenstufe, die es dem Mikroskop ermöglicht, sich zu drehen, zu kippen und sich automatisch auf verschiedene Bereiche einer Probe zu konzentrieren. Dadurch können mehrere Bereiche gleichzeitig abgebildet werden. Darüber hinaus ermöglichen automatisierte SEM-Bildgebungstechniken wie die rückseitige Bildgebung dem Mikroskop, Oberflächen- und Untergrundeigenschaften zu eliminieren, die den Bildgebungsprozess stören können. JFIB 2300 ist ein extrem effektives Rasterelektronenmikroskop zur Abbildung von Proben auf Nanoskala. Sein benutzerfreundliches Design macht es zum idealen Werkzeug für Forscher, die komplexe biologische und materielle Proben mit unglaublich hoher Genauigkeit und Detailgenauigkeit bewerten möchten. Die hohe Auflösung des Bild- und In-Column-Energiefilters bietet Forschern eine zuverlässige und effiziente Möglichkeit, die mikroskopischen Merkmale ihrer Proben zu erforschen.