Gebraucht JEOL JFIB 2300 #9409370 zu verkaufen

JEOL JFIB 2300 ist ein Rasterelektronenmikroskop zur Beobachtung und Analyse von Nanostrukturen in der Nanotechnologie. Es nutzt fortschrittliche Elektronenoptik, um digitale Bilder mit extrem feiner Auflösung zu erzeugen. Sein Strahlstrom variiert von 0 bis 300 pA und kann Bilder von Oberflächen mit einer Auflösung von 100 nm erzeugen. JFIB 2300 enthält ein energiedispersives Spektrometer (EDS), mit dem chemische Zusammensetzungen identifiziert werden können. Dieses Mikroskop enthält auch eine Elektronen-Backscatter-Beugungseinheit (EBSD), die es dem Benutzer ermöglicht, Informationen über die kristallographische Orientierung von Proben zu erhalten. Ein magnetischer Ablenker sorgt dafür, dass der Elektronenstrahl genau ausgerichtet ist und eine eingebaute fraktionierte Apertur die Möglichkeit bietet, Bilder mit höheren Vergrößerungen zu erfassen. JEOL JFIB 2300 ist temperaturstabil und vibrationsbeständig mit einer langen Nutzungsdauer. Es enthält auch mehrere Sicherheitsmerkmale wie Sicherheitssignalisierung und antistatische Platinen für den sicheren Betrieb. Das Mikroskop ist mit hochpräzisen Piezoaktoren und einem geschlossenen Positioniersystem für präzise Bühnenbewegung und Probenpositionierung gebaut. Die Benutzeroberfläche verfügt über eine breite Palette von Optionen und einen integrierten Monitor sowie Tasten und eine Maus für eine einfache Bedienung. Darüber hinaus umfasst die Schnittstelle eine Netzwerkverbindung, die es ermöglicht, mit einem externen Computer zur Datenanalyse zu kommunizieren. Insgesamt ist JFIB 2300 ein unglaublich leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das detaillierte und genaue Bilder von Nanostrukturen erzeugen kann. Sein Leistungsspektrum macht es zu einem zuverlässigen bildgebenden Werkzeug, das es Anwendern ermöglicht, die physikalische und chemische Struktur einer Probe leicht zu identifizieren.