Gebraucht JEOL JFS 9855S #293645448 zu verkaufen

JEOL JFS 9855S Rasterelektronenmikroskop ist eine hochentwickelte Ausrüstung, die eine detaillierte Analyse von Proben auf der Nanoskala ermöglicht. Dieses Mikroskop nutzt eine Kombination aus mehreren bildgebenden Technologien, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie, Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung. JFS 9855S ist ein Hochleistungsinstrument, das ein sehr wettbewerbsfähiges Leistungsniveau in einer Vielzahl von Anwendungen aufweist. Das Mikroskop verwendet eine hochspezialisierte Elektronenoptik, die einen fokussierten und klar definierten Elektronenstrahl erzeugt. Der hochauflösende Rasterelektronendetektor kann Proben mit Bildern mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer versehen. Darüber hinaus bieten die Sekundär- und Rückstreuelektronen-Detektionssysteme des Systems die Möglichkeit, Funktionen im Nanometermaßstab abzubilden. Dies ermöglicht eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich der Probenanalyse in der Materialwissenschaft und der Halbleiterherstellung. JEOL JFS 9855S Mikroskop ist auch in der Lage, eine Vielzahl von bildgebenden Techniken durchzuführen, einschließlich konventionelle Rasterelektronenmikroskopie, Rückstreuelektronenbildgebung, sekundäre Elektronenbildgebung und Energiedispersive Spektroskopie. Darüber hinaus umfasst das System eine Vielzahl automatisierter Steuerungen und eine benutzerfreundliche Oberfläche, die den Prozess der Probenvorbereitung und Datenerfassung erheblich vereinfachen. JFS 9855S umfasst auch mehrere erweiterte Funktionen, wie eine automatisierte Sputterbeschichtungskammer, die die Schaffung einer dünnen, gleichmäßigen Beschichtung von Kohlenstoff, Gold oder anderen Metallen auf der Probenoberfläche ermöglicht. Diese gleichmäßig beschichtete Probenoberfläche ist für die Erzeugung hochwertiger Bilder sowie für die Sicherstellung, dass die Probe während des Abbildungsprozesses nicht beschädigt wird, notwendig. Mit all diesen Funktionen bietet JEOL JFS 9855S Anwendern ein Werkzeug, das in der Lage ist, hochauflösende Bilder von Nanostrukturen exakt und zuverlässig zu erzeugen. Insgesamt ist das JFS 9855S Rasterelektronenmikroskop ein leistungsstarkes und hochentwickeltes Instrument, das hohe Leistung und zuverlässige Ergebnisse in der Nanoskala-Bildgebung bietet. Durch die Nutzung ausgeklügelter Elektronenoptiken und einer Vielzahl von bildgebenden Verfahren ermöglicht JEOL JFS 9855S, Bilder von Nanostrukturen zu erhalten, die wesentlich detaillierter sind als mit herkömmlichen bildgebenden Verfahren hergestellt werden können. Mit seinen beeindruckenden Eigenschaften und Fähigkeiten ist JFS 9855S eine ausgezeichnete Wahl für Anwender, die Nanostrukturen oder Halbleiterproben auf einem hochauflösenden Niveau analysieren möchten.