Gebraucht JEOL JFS 9855S #9080586 zu verkaufen

JEOL JFS 9855S ist ein fortschrittliches Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung, Analyse und Messung einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Dieses SEM ist in der Lage, Sub-Nanometer-Auflösung, so dass JFS 9855S ideal für hohe Vergrößerung bildgebende und metallurgische Probenanalyse. Das vielseitige Design des 9855S ermöglicht eine variable Druck- und Hochvakuum-SEM-Abbildung; dies ermöglicht eine genaue Bildgebung und Analyse eines großen Teils der Materialproben. Der variable Druckmodus ermöglicht die Oberflächenanalyse von nassen und absorbierenden Proben, da kein Vakuum erreicht werden muss, um ein detailliertes SEM-Bild zu erstellen. Das 9855S ist mit einer digitalen und analogen Videokamera ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, SEM-Bilder mit höchster Präzision und Klarheit aufzunehmen. Die Digitalkamera unterstützt eine Vielzahl von Auflösungen und Kontrasttechniken, einschließlich High Dynamic Range Imaging. Dies ermöglicht die Aufnahme höherer Kontrastbilder, mit einem größeren Helligkeitsbereich zwischen Farbtönen ähnlicher Farben. Darüber hinaus verfügt JEOL JFS 9855S über eine umfassende Software zur schnellen manuellen oder automatisierten Aufbereitung quantitativer Daten zu den abgebildeten Proben. Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) kann verwendet werden, um eine detaillierte elementare Analyse der Zielprobe durch die Messung der Röntgenenergie zu ermöglichen, die emittiert wird, wenn eine Probe mit Elektronen bombardiert wird. Dies kann mit einer Röntgenmikroanalyse-Software kombiniert werden, um qualitative und quantitative Daten aus den SEM-Bildern einschließlich elementarer Zusammensetzung, Morphologie und Größenverteilung zu erzeugen. Das System verfügt außerdem über eine optionale 3-Achsen-Stufe zur präzisen Analyse großer Proben. Die EDS und optionale Stufe können mit Automatisierungssoftware für hochgenaue und wiederholbare Analysen kombiniert werden. Zusammenfassend ist JFS 9855S ein vielseitiges Desktop-Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für die Bildgebung, Analyse und Messung unterschiedlichster Proben eignet. Dieses fortschrittliche SEM ist sowohl mit einer digitalen als auch mit einer analogen Kamera ausgestattet, zusammen mit Software zur Bereitstellung automatisierter oder quantitativer Daten. Die optionale EDS-und 3-Achsen-Bühne machen dieses SEM ideal für alle, die eine hohe Auflösung benötigen, Qualität SEM für Mikroskopie und Metallurgie Anwendungen.