Gebraucht JEOL JFS 9855S #9249355 zu verkaufen

JEOL JFS 9855S ist ein Rasterelektronenmikroskop mit einem energiedispersiven Röntgenstrahlendetektor (EDX) für die Elementaranalyse. Es ist mit einem 3,4-nm-Wolframfaden ausgestattet, der bis zu 125kV für den Betrieb bereitstellen kann. Darüber hinaus verfügt es über eine große Kammergröße zur Probenbeobachtung, die eine Zugriffsfläche von 20cm x 20cm und eine benutzerfreundliche Benutzeroberfläche bietet. Sein energiedispersiver Röntgendetektor bietet genaue, hochauflösende EDX-Elementaranalysemessungen der Probe. Der EDX-Detektor hat ein sehr kleines Interaktionsvolumen und eignet sich somit ideal zur Quantifizierung von Spurenelementen in Proben. Die in JFS 9855S verwendete Beschleunigerlinse ist ein zweistufiges Design, das die Leistung und Zuverlässigkeit der Einheit verbessert, was zu einer verbesserten Auflösung und einer Vielzahl von Probengrößen und -formen führt. Die zweite Stufe der Beschleunigerlinse weist außerdem eine Strahlspreizeinrichtung auf, die den Effekt von Streuelektronen reduziert und dadurch Bildqualität und Kontrast verbessert. Dadurch ist eine Submikron-Auflösung erreichbar. JEOL JFS 9855S ist mit einem 7.4kW E-Gun Netzteil ausgestattet, das eine hochauflösende Sekundärelektronenbildgebung ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein ultraempfindliches E-Gun-Stromüberwachungssystem, das die Strahlstabilität und wiederholbare Bildgebung gewährleistet. Die Energiefiltereinheit auf JFS 9855S ist vollständig mit dem E-Gun und EDX Detektor integriert und ermöglicht eine Echtzeit-Energiefilterung des Strahls. Dies hilft, die sekundäre Elektronenausbeute zu reduzieren und kann die Röntgenanalyse auf einen kleinen Bereich von Interesse fokussieren. Der Filter ermöglicht auch die Einstellung der Energieauflösung des EDX-Detektors. JEOL JFS 9855S ist auch mit einer Vielzahl von hochauflösenden automatisierten Kameras ausgestattet, wie der Standard-Kamera, Hochvergrößerungskamera und Scanning/Low-Vergrößerungskamera. Darüber hinaus ermöglicht die fortschrittliche Auto-Fokussiermaschine auf dem 9855S die einfache Umschaltung des Betriebsmodus zwischen Auto-Modus und manuellem Modus und bietet vielseitige Bildgebungs- und Analysefunktionen. Abschließend ist JFS 9855S ein leistungsstarkes, hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit integriertem EDX-Detektor, der eine genaue Analyse der Elementarzusammensetzung ermöglicht. Die Strahlspreizeinrichtung ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und der Energiefilter sorgt für eine hochauflösende Elementaranalyse. Die automatisierte Kamera und die automatische Fokussierung machen JEOL JFS 9855S zu einem vielseitigen Instrument für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben.