Gebraucht JEOL JFS 9955S #293642746 zu verkaufen

JEOL JFS 9955S Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug für eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich Bildgebung, Partikelanalyse und Oberflächenanalyse. Es ist für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Materialien konzipiert, von weichen organischen Materialien bis hin zu härteren anorganischen Verbundstoffen. JFS 9955S hat ein robustes Design und ist somit ideal für Forschung und Industrie. Die Säule des Instruments ist mit einem ultrastabilen, direkten Antriebsmotor ausgestattet, der eine präzise Positionierung von Objektiv und Probe gewährleistet. Darüber hinaus bietet sein Sekundärelektronendetektor, der Abtast- und Rückstreuelektronen für die Bildgebung verwendet, hochwertige Bilder mit außergewöhnlichen Detailgenauigkeiten. Die Partikel- und Oberflächenanalyse kann mit einer Vielzahl von Detektoren durchgeführt werden, einschließlich des ultrahochauflösenden Elektronendetektors „CED“. Dieser fortschrittliche Detektor hat eine hohe Detektionsempfindlichkeit, so dass Benutzer Partikel einer viel kleineren Größe als herkömmliche Detektoren analysieren und charakterisieren können. Zusätzlich ist JEOL JFS 9955S mit einem energiedispersiven Spektrometer (EDS) für die Elementaranalyse ausgestattet. Durch die Kombination dieser beiden Detektoren (CED und EDS) kann das Instrument sowohl eine Mikrostruktur- als auch eine Elementaranalyse liefern, die eine höhere Geschwindigkeit als bei anderen Systemen bietet. Neben seinen fortschrittlichen Detektoren bietet JFS 9955S auch eine breite Palette fortschrittlicher Funktionen zur Verbesserung des SEM-Betriebs und der Benutzererfahrung. Das SEM verfügt über eine Vielzahl von automatisierten Funktionen, wie Autofokus, die es dem Benutzer ermöglichen, den Fokus des Instruments schnell und genau anzupassen. Darüber hinaus verfügt es über eine Vielzahl von Bilderfassungs- und Analysesoftware, so dass Benutzer Probenparameter besser überwachen und die Nachbearbeitungsfunktionen nutzen können. Insgesamt ist JEOL JFS 9955S eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen, die bildgebende und Partikel/Oberflächenanalysen umfassen. Es verfügt über ein robustes Design und erweiterte Funktionen, die eine höhere Qualität der Bildgebung und Analyseergebnisse ermöglichen. Mit seinen leistungsstarken Detektionsmöglichkeiten ist JFS 9955S eine ideale Wahl für diejenigen, die ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop suchen.