Gebraucht JEOL JFS 9955S #9386880 zu verkaufen

JEOL JFS 9955S
ID: 9386880
Scanning Electron Microscope (SEM) Auto loader, 8" Magnification range: 200000X Tilt range: 0° - 60° Stage tilt: 0° - 60° Resolution: 5 nm Accelerating voltage: 15000 V EBARA A10S Cryo pump Chiller High SIM resolution: 7 nm (30 kV) High SEM resolution: 5 nm (1 kV) Auto-loader coordinate: C to C With optical defect inspection system Laser microscope recipe capability Cables included Power supply: 202 V.
JEOL JFS 9955S ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsanwendungen. Es verfügt über eine breite Palette von Technologien wie eine große Kammer mit niedrigem Vakuum, ein digitales Bildgebungssystem und eine CCD-Live-Kamera, mit der Forscher verschiedene Bildgebungsmodi nutzen können. Dieses SEM ist perfekt für diejenigen, die klare, hochwertige Bilder von Mikro- und Nanostrukturen benötigen. Es ermöglicht die Abbildung von Proben mit niedriger Dichte und kann eine Vergrößerung von bis zu 1.000.000x erreichen. JFS 9955S ist mit einer extrem leistungsstarken 15kV variablen Fokuselektronensäule ausgestattet. Dadurch wird sichergestellt, dass die Leistung des Instruments unabhängig vom Probenmaterial oder den Abbildungsbedingungen hoch bleibt. Die Spalte verfügt auch über geringe Aberrations- und Scan-Fähigkeiten, so dass sie perfekt für detaillierte Bilder von selbst kleinsten Objekten geeignet ist. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine robuste 11-polige High-Brightness Field Emission Gun (FEG), die einen hochstabilen Abstrahlstrom zur zuverlässigen Abbildung von Proben niedriger Dichte erzeugen kann. Wenn es um bildgebende Funktionen geht, enttäuscht JEOL JFS 9955S nicht. Es kommt mit einer großen Niedervakuumkammer für optimierte Bildauflösung bei höheren Vergrößerungen. Darüber hinaus unterstützt das SEM Live-Imaging mit seiner CCD-Live-Kamera und verschiedenen Anwendungen, die gleichzeitig ausgeführt werden können. So können Forscher mehrere Modi wie Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen (BSEs) nutzen. Das digitale Bildgebungssystem ermöglicht bei Bedarf auch automatisierte digitale Kontrasteinstellungen und manuelle Bearbeitung. Schließlich verfügt JFS 9955S über einen einzigartigen ASC-Modus (Adaptive Scan Control). Dieser Modus ermöglicht es Benutzern, den Elektronenstrahl-Strom automatisch einzustellen, um Bilder höherer Auflösung aufzunehmen, während niedrigere Strahlströme und längere Akquisitionszeiten verwendet werden. Das bedeutet, dass Forscher klarere, zuverlässigere Bilder erhalten können, ohne auf Leistung oder Scangeschwindigkeit zu verzichten. Insgesamt ist JEOL JFS 9955S eine unglaublich leistungsstarke und zuverlässige Ausrüstung, die perfekt für diejenigen ist, die detailreiche Bilder von selbst kleinsten Objekten benötigen. Mit seinem leistungsstarken FEG, der großen Niedervakuumkammer und dem ASC-Modus stellt dieses SEM sicher, dass Forscher über die Werkzeuge verfügen, die sie benötigen, um ihre Forschungs- und Entwicklungsstudien erfolgreich durchzuführen.
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