Gebraucht JEOL JIB-4700F #293775629 zu verkaufen

JEOL JIB-4700F ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Hochleistungs-Bildgebung und -analyse auf nanoskaliger Ebene. Dieses fortschrittliche Instrument integriert hochmoderne Elektronenoptiken, ein hochstabiles Strahlsystem und vielseitige Detektionsmöglichkeiten, um eine überlegene Bildauflösung und analytische Präzision zu liefern. Herzstück von JIB-4700F ist seine Elektronensäule, die eine Elektronenkanone mit hoher Helligkeit aufweist, die einen fokussierten Elektronenstrahl mit Nanometerauflösung erzeugen kann. Dieser Elektronenstrahl wird verwendet, um die Oberfläche der zu untersuchenden Probe zu scannen, wodurch das SEM hochwertige Bilder mit außergewöhnlicher Detailtreue und Klarheit aufnehmen kann. JEOL JIB-4700F ist mit einer Reihe von beschleunigenden Spannungen ausgestattet, die verschiedenen Probentypen und bildgebenden Anforderungen entsprechen, so dass Benutzer die bildgebenden Bedingungen für verbesserten Kontrast und Auflösung optimieren können. Eines der Hauptmerkmale von JIB-4700F ist sein fortschrittliches Elektronendetektionssystem, das einen Festkörper-Rückstreuelektronendetektor (BSE), einen Sekundärelektronendetektor (SE) und ein energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) umfasst. Dieser umfassende Satz von Detektoren ermöglicht es dem SEM, eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Daten gleichzeitig zu erfassen und Einblicke in die Probenzusammensetzung, Topographie und elementare Verteilung zu geben. Der Festkörper-BSE-Detektor in JEOL JIB-4700F dient zur Aufnahme von Bildern der Oberflächenmorphologie und Zusammensetzung der Probe basierend auf der Intensität von rückgestreuten Elektronen, die emittiert werden, wenn der einfallende Elektronenstrahl mit der Probe wechselwirkt. Durch die Analyse des BSE-Signals können Anwender Merkmale wie Korngrenzen, Phasengrenzen und Materialkontrast visualisieren, was es ideal für die Charakterisierung von Mikrostrukturen und Zusammensetzungen in einer Vielzahl von Materialien macht. Der Sekundärelektronendetektor in JIB-4700F ist empfindlich gegenüber niederenergetischen Elektronen, die durch die Wechselwirkung des Primärelektronenstrahls von der Oberfläche der Probe emittiert werden. Dieser Detektor wird häufig zur hochauflösenden Abbildung der Oberflächentopographie verwendet und liefert detaillierte Einblicke in Oberflächenrauhigkeit, Textur und feine Strukturen auf nanoskaliger Ebene. Durch die Kombination von SE- und BSE-Bildgebungsmodi können Anwender umfassende Oberflächeninformationen erhalten und komplexe Beispieldetails mit bemerkenswerter Klarheit visualisieren. Neben den bildgebenden Fähigkeiten ist JEOL JIB-4700F mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) zur Elementaranalyse und Kartierung ausgestattet. Das EDS-System detektiert charakteristische Röntgenstrahlen, die von der Probe aufgrund der Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit Probenatomen emittiert werden, so dass Benutzer elementare Zusammensetzung mit hoher Empfindlichkeit und räumlicher Auflösung identifizieren und quantifizieren können. Durch die EDS-Analyse in Verbindung mit der SEM-Bildgebung können Forscher die elementare Verteilung mit der Probenmorphologie korrelieren und wertvolle Erkenntnisse über Materialeigenschaften und chemische Zusammensetzung gewinnen. Insgesamt ist JIB-4700F Rasterelektronenmikroskop ein vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug für fortgeschrittene Bildgebung und Analyse in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Geologie und anderen wissenschaftlichen Bereichen. Mit seiner hochmodernen Elektronenoptik, der präzisen Strahlsteuerung und umfassenden Detektionsmöglichkeiten bietet JEOL JIB-4700F Forschern eine Fülle von Informationen über Probenstrukturen, Zusammensetzungen und Eigenschaften auf nanoskaliger Ebene und ist damit ein unverzichtbares Instrument für moderne Mikroskopie- und Mikroanalyseanwendungen.