Gebraucht JEOL JSM 35 #9402450 zu verkaufen

JEOL JSM 35 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine breite Palette von bildgebenden Anwendungen bietet und es zu einem leistungsstarken Werkzeug für wissenschaftliche Forschung macht. Es hat eine Fülle von Funktionen und Funktionen, die es zu einem idealen Instrument für hochauflösende Bilder zu erhalten. JSM 35 verfügt über eine überlegene Auflösung und Bildqualität mit einer einfachen Konstruktion und Erschwinglichkeit im Vergleich zu anderen SEMs. Es verfügt über eine Wolfram-Filament-Pistole mit einer zweistufigen thermionischen Elektronenquelle. Dies ermöglicht höhere Strahlströme und eine bessere Auflösung bis maximal 250 nm. Dieses Instrument verfügt auch über eine Vielzahl von Detektoren, wie einen Sekundärelektronendetektor, einen energiedispersiven Röntgendetektor und einen rückgestreuten Elektronendetektor für verbesserte Abbildungsmöglichkeiten und eine verbesserte Anzeige der Elementaranalyse. JEOL JSM 35 ermöglicht es dem Benutzer, je nach Bedarf aus verschiedenen Scanmodi zu wählen. Dazu gehören Scanmodi wie variabler Druck, variabler Strom und Scannen mit variabler Spotgröße. Darüber hinaus ermöglicht dieses Tool dem Benutzer die Auswahl zwischen austauschbaren Bildgebungsmodi. Die Wahl zwischen diesen Modi umfasst sekundäre Elektronenbildgebung, variable Druckbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung. JSM 35 kann auch zur Vorbereitung von Proben zur weiteren Untersuchung verwendet werden. Manuelle Manipulation mit dem Manipulator, Probenhalter und Vakuumsystem des Systems kann verwendet werden, um einfach Probensubstrate auszuwählen und zu bewegen. Dieses Instrument ist mit einer Reihe von automatisierten Ausrichtungs- und Track-Programmen ausgestattet, die über eine eingebaute Zustandsmaschine konfigurierbar sind. So können Anwender schnell und präzise Punkte auf einer Probe finden und sich präzise von einem Punkt zum anderen bewegen. Diese robuste Automatisierung vereinfacht die Analyse und ermöglicht eine detailliertere Bilderfassung und Datenerfassung, wodurch der Gesamtaufwand für ein einzelnes Experiment reduziert wird. Eine digitale Schnittstelle ermöglicht eine einfache Integration mit anderen grafischen Design-, Analyse- und CAD-Programmen. So können Benutzer ihre Ergebnisse schnell und einfach teilen und kommunizieren. Darüber hinaus ist dieses SEM in der Lage, auf höhere Auflösungen zuzugreifen, die es dem Benutzer ermöglichen, die Oberfläche eines Objekts genauer zu überprüfen und auszuwerten. JEOL JSM 35 ist eine ausgezeichnete Wahl für ein SEM. Seine leistungsstarke Kombination aus Funktionen, Auflösung und automatisierter Fähigkeit macht es zu einer großartigen Option für wissenschaftliche Forschung und bildgebende Anwendungen.