Gebraucht JEOL JSM 35C #9355833 zu verkaufen

JEOL JSM 35C Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Instrument der hohen Leistung für routinemäßige und analytische Bildgebungsfähigkeit entwickelt. Das Gerät ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die einen hochbeleuchteten Elektronenstrahl erzeugt, der eine 30 kV Beschleunigungsspannung aufweist und eine Auflösung von bis zu 1,5 nm erreichen kann. Das System ist auch mit einem EDS-Detektor ausgestattet, der eine semiquantitative Elementaranalyse von Proben ermöglicht. JSM 35C bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken. Dieses SEM ist sowohl mit sekundären Elektronenbildern (SEI) als auch mit rückgestreuten Elektronenbildern (BSI) ausgestattet. SEI ermöglicht es dem Anwender, Oberflächenmorphologie, Topographie und elementare Zusammensetzung einer Probe zu visualisieren. BSI ermöglicht die Beobachtung von Struktur und internen Merkmalen einer Probe im Nanometermaßstab. Eine automatisierte Stufe ermöglicht die genaue Positionierung einer Probe unter dem Elektronenstrahl. Die Proben, die mit diesem SEM abgebildet werden können, können von mehreren Millimetern bis zu mehreren Mikrometern groß sein. Das SEM kann auch Proben bei Temperaturen bis 1000 ° C unter Verwendung eines geeigneten Probenhalters aufnehmen. JEOL JSM 35C ist ein vielseitiges Instrument, das in der Lage ist, automatisch präzise Messungen von Probenparametern wie Größe, Oberfläche und Dicke durchzuführen. Darüber hinaus kann das SEM zur Abbildung von Pflanzen, Tierproben und anderen Objekten in drei Dimensionen verwendet werden. Die Auflösung des SEM ist nicht durch sein Pixel-Array begrenzt, wodurch extrem hochauflösende Bilder von Objekten erhalten werden können, die mit anderen bildgebenden Techniken nicht möglich wären. Die eingebauten Probenvorbereitungsmerkmale von JSM 35C ermöglichen die Beschichtung von Proben mit einer dünnen Schicht aus leitfähigem Material, um die Probe vor Beschädigungen durch den Elektronenstrahl zu schützen und zu schützen. Es ist auch möglich, die Helligkeit und den Kontrast eines Bildes durch Einstellung der Detektorempfindlichkeit und der Elektronenstrahlbedingungen zu manipulieren. Schließlich beinhaltet das SEM die Fähigkeit zur automatischen Navigationssteuerung des Strahls, die die Auswahl größerer Bereiche einer Probe mit einem Klick ermöglicht. Insgesamt ist JEOL JSM 35C ein ergonomisch gestaltetes Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern eine Reihe fortschrittlicher bildgebender Funktionen mit hoher Auflösung bietet. Mit der Ergänzung seiner automatisierten Probenvorbereitung, Navigationssteuerung und Messfunktionen ist JSM 35C in der Lage, viele der analytisch anspruchsvollsten Aufgaben mit Leichtigkeit zu erfüllen.