Gebraucht JEOL JSM 5200 #293655828 zu verkaufen

JEOL JSM 5200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es wird mit fortschrittlichen Technologien im elektronenmikroskopischen Design gebaut, so dass es in hohen Auflösungen zu Bildern. JSM 5200 hat einen beschleunigenden Spannungsbereich von bis zu 30 kV und verwendet Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und transmittierte Elektronen, um Elektronenmuster zu erzeugen, die zur Analyse der Oberflächenmorphologie und der chemischen Zusammensetzung verwendet werden können. Es verfügt auch über eine Kammer mit einem Emissionsdetektor, so dass es Probengase und Chemikalien, die Analyse beeinflussen können zu detektieren. JEOL JSM 5200 ist mit einer robusten bildgebenden Ausrüstung ausgestattet, die ein großes Sichtfeld mit hoher Auflösung erzeugt. Der Digital Pulse Processor (DPP) bietet eine extrem hohe Empfindlichkeit, die einen verbesserten Kontrast und eine verbesserte Auflösung ermöglicht. Das Mikroskop verfügt zudem über ein Detektionssystem mit einer Hochgeschwindigkeits-Detektionsfähigkeit, das schnelle Akquisitionsgeschwindigkeiten bietet. Die Einheit ist auch in der Lage, Daten von der Probe in mehreren Kanälen zu sammeln, so dass eine Vielzahl von Analyseergebnissen wie Element Mapping und chemische Zusammensetzung Analyse. JSM 5200 verfügt über eine fortschrittliche Probenstufenkontrollmaschine, die eine präzise Positions- und Winkelkontrolle für die exakte Probenpositionierung bietet. Das Strahlkontrollwerkzeug liefert präzise und kontrastreiche Bilder durch die Steuerung von Strahlstrom, Ablenkung, Punktgröße, Strahlfokus und Astigmatismus. Das Mikroskop ist in der Lage, eine automatisierte Abtastung und Ausrichtung mehrerer Probenstufen durchzuführen, und ist auch in der Lage, eine automatische Bildverarbeitung durchzuführen. JEOL JSM 5200 verfügt über eine intuitive Steuerung, die es Anwendern ermöglicht, Experimente schnell einzurichten und die Mikroskopleistung zu steuern. Das Mikroskop ist auch mit einer Vielzahl von bildgebenden Softwarepaketen einschließlich JEOL eigenen SEMI Suite kompatibel. Das Modell kann auch an Peripheriegeräte wie Detektoren und Röntgenquelle angeschlossen werden, um eine Vielzahl von Analysetechniken aufzunehmen, einschließlich Sekundärelektronenmikroskopie (SEM), Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM), Energiedispersive Spektroskopie (EDS DS), Insgesamt ist JSM 5200 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysefunktionen bereitzustellen. Mit seiner fortschrittlichen bildgebenden Ausrüstung, der leistungsstarken Probenstufensteuerung und dem intuitiven Steuersystem kann dieses Mikroskop Benutzern dabei helfen, hochpräzise Informationen zu finden und zu analysieren, was eine breite Palette von Forschungs- und Analysebedürfnissen erleichtert.