Gebraucht JEOL JSM 5200 #293663420 zu verkaufen

JEOL JSM 5200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument für detaillierte mikroskopische Messungen. Durch die hochauflösende Abbildungsfähigkeit dieses Instruments können kleine Objekte und Merkmale von Interesse mit Vergrößerungen bis zu x 140.000 sehr detailliert beobachtet werden. Die in JSM 5200 verwendete Elektronenquelle ist eine Thermionic Field Emission Gun (FEG), die den Vorteil einer schnellen Inbetriebnahme und großer Stabilität hat. Die zu beobachtende Probe wird in der Vakuumkammer des Systems mit einem Elektronenstrahl beladen und das resultierende Sekundärelektronenbild dann erfasst und auf dem Monitor angezeigt. JEOL JSM 5200 enthält mehrere Funktionen, um die Qualität der Bilder zu verbessern. Zu diesen Funktionen gehören die automatische Fokusanpassung, Defocus Drift Correction, Astigmatic Correction und Digital Super Resolution, die eine präzise Kontrolle der Bildqualität und Auflösung ermöglichen. Die innovative Digital Super Resolution-Technologie ermöglicht es dem System, mehr Informationen über Funktionen in der Nähe zu erfassen und Bilder mit überlegener Schärfe im Vergleich zu herkömmlicher Technologie zu erzeugen. Zusätzlich zu den genannten Technologien verfügt das Gerät über eine Reihe von Detektoren, die Elektronen, die von der Probe reflektiert werden, auf verschiedene Weise detektieren und eine Vielzahl von Messfähigkeiten ermöglichen. Zu diesen Detektoren gehören ein Sekundärelektronendetektor, ein Rückstreuelektronendetektor, ein Kathodolumineszenzdetektor und ein energiedispersiver Röntgendetektor. Letztere ermöglicht eine elementspezifische Bildgebung und ermöglicht die Analyse der chemischen Zusammensetzung an der Probenoberfläche und daneben. JSM 5200 bietet auch das Softwarepaket AZtecLive zur erweiterten Bildanalyse an. Diese Software bietet eine Reihe von erweiterten Funktionen, einschließlich automatisierte Punktauswahl und Kontrastanpassung, sowie Spot- und Linienprofile, die verwendet werden können, um verschiedene Parameter der Probe zu messen. Darüber hinaus ist JEOL JSM 5200 einfach zu bedienen, da die Benutzeroberfläche intuitiv ist und eine breite Palette von benutzerfreundlichen Funktionen enthält. Dieses System ist ideal für viele Beobachtungsanwendungen in verschiedenen Bereichen, wie materialwissenschaftliche Anwendungen, Fehleranalysestudien, biologische Gewebebeobachtung und nanoskalige Forschung.