Gebraucht JEOL JSM 5200 #9082752 zu verkaufen

JEOL JSM 5200 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das sowohl für überlegene Auflösung als auch für geringe Hintergrundgeräusche entwickelt wurde. Sie ist in der Lage, Nanostrukturen mit einer Auflösung von 0,6 nm im Sekundärelektron (SE) -Modus und einem minimalen Arbeitsabstand von 8 mm im SE-Modus kontrastreich abzubilden. Das Gerät ist mit zwei Standarddetektoren für die SE- und Rückstreuelektronen (BSE) -Bildgebung ausgestattet. Es ist auch in der Lage, kontrastreiche Bilder komplexer Nanostrukturen wie Quantenpunkte und Nanoroden zu erzeugen, ohne dass eine spezielle Probenvorbereitung erforderlich ist. JSM 5200 ist ein Doppelstrahl-Instrument, das sowohl Niedervakuum- als auch Umgebungs-Rasterelektronenmikroskopie (ESEM) kombiniert. Beide Modi sind in der Lage, eine Auflösung von 0,2 nm unter Beibehaltung niedriger Hintergrundgeräusche zu erzielen. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, in einer Vielzahl von Modulationsmodi zu arbeiten, wie statische und variable Druck. Dadurch kann der Benutzer die Umgebung für verschiedene Typen von Beispielen optimieren. Die Probenstufe von JEOL JSM 5200 wird temperaturgesteuert, um die Probenstabilität zu verbessern und die Beobachtung temperaturempfindlicher Proben zu ermöglichen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, Echtzeitbilder von Proben zu erhalten, um dynamische Prozesse wie Zellmigration zu erforschen. JSM 5200 ist in der Lage, Farben auf verschiedene Weise zu erzeugen, einschließlich Chromaticaberration Korrektur, Helligkeit und Kontrastverbesserungen, und Bildzusammensetzung mit dem Signal von drei verschiedenen Detektoren. Darüber hinaus bietet es die Möglichkeit, Bilder in einer Vielzahl von Formaten wie TIFF, BMP und JPEG zu speichern. Schließlich ist JEOL JSM 5200 mit einer vollautomatischen Probenvorbereitungseinheit ausgestattet, die die Evakuierung von Proben zur Charakterisierung ermöglicht. Diese Einheit besteht aus einem Autoloader, einem Druckhalter und einer variablen Druckstufe, die eine Vielzahl von Probengrößen und -formen aufnehmen kann. Insgesamt ist JSM 5200 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder von Nanostrukturen mit geringem Hintergrundrauschen bereitstellen kann. Die Dual-Beam-Funktionen, die automatisierte Probenvorbereitungseinheit und die Vielzahl an Modulationsmodi machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen.