Gebraucht JEOL JSM 5200 #9176403 zu verkaufen

JEOL JSM 5200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es kombiniert die effizienten Fähigkeiten eines variablen Druck-SEMs mit denen eines hochauflösenden SEMs und bietet Forschern beispiellosen Komfort und Präzision. Das Mikroskop verfügt über einen hochempfindlichen energiedispersiven Röntgendetektor (EDX), der eine hochauflösende Elementaranalyse ermöglicht. Zusätzlich ist es mit einer verstellbaren Probenkammer für eine einfache Bedienung und optimale Ergebnisse ausgestattet. Das Gerät ist beliebt unter einer Reihe von industriellen und akademischen Forschung, aufgrund seiner erweiterten Fähigkeiten. JSM 5200 hat einen Arbeitsabstand von 3mm und einen zusätzlichen Bereich von bis zu 3.6mm, an dem eine Vielzahl von Probengrößen befestigt werden kann. Darüber hinaus hat es eine 13,6 mm Öffnung für Luftströmung, so dass Benutzer in einer gesunden Umgebung arbeiten. Das SEM arbeitet mit verschiedenen rückgestreuten Elektronendetektoren und bietet Anwendern die Flexibilität, ihren Bedürfnissen gerecht zu werden. Das Mikroskop verfügt auch über einen Everhart-Thornley Sekundärelektronendetektor, für maximale Stabilität bei extremen Vergrößerungen. JEOL JSM 5200 bietet Anwendern eine ausgezeichnete Auflösung von bis zu 1,7 nm. Auf diese Weise können Forscher komplizierte Details beobachten, die normalerweise mit herkömmlichen Mikroskopen nicht zu sehen sind. Die Scan-Systeme sind so konzipiert, dass Forscher beliebige Abfragemuster erstellen können, so dass komplexe Studien durchgeführt werden können. Das SEM ist mit einem automatisierten Navigationssystem ausgestattet, das Anwender Schritt für Schritt durch ihre Experimente für maximalen Erfolg führt. Die Benutzeroberfläche der Software ist leicht zu verstehen und zu navigieren, was einen schnellen Betrieb ermöglicht. Dieses SEM bietet überlegene Geschwindigkeit und Genauigkeit bei der Elementaranalyse, während Benutzer ihre Daten für zukünftige Referenzen speichern können. Das Gerät verfügt über eine 30 kV/200nA Elektronenquelle und ist ohne Probenvorbereitung hochauflösend abbildbar. Die automatisierte Stufe sorgt für die Optimierung der Beispielstaging, spart den Anwendern wertvolle Zeit und sorgt für genaue Ergebnisse. Dies macht es ideal für qualitative Analyse und Grundlagenforschung. Insgesamt ist JSM 5200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, perfekt für eine Reihe von Forschungsanwendungen. Es bietet eine hervorragende Auflösung und ist in der Lage, Elementaranalysen durchzuführen, was es zu einem der gefragtesten SEMs auf dem Markt macht.