Gebraucht JEOL JSM 5300LV #9302351 zu verkaufen

JEOL JSM 5300LV ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine vielseitigen Fähigkeiten und seine hochauflösende Bildgebung bekannt ist. Das Instrument kombiniert die Bequemlichkeit von Niedervakuumbetrieb und Benutzerfreundlichkeit mit leistungsstarken Analysewerkzeugen. Die hochauflösenden bildgebenden Eigenschaften des Mikroskops ermöglichen eine Reihe von Anwendungen von einfacher Bildgebung bis hin zu komplexeren Techniken wie Elementaranalyse und Mikrodiffraktion. Die einzigartige Konstruktion von JEOL JSM-5300LV umfasst einen großen Sekundärelektronendetektor, der einen Großteil der Verzerrung bei konventionelleren Konstruktionen eliminiert. Dadurch kann das Mikroskop große Bereiche schnell abbilden und dabei eine gleichbleibend hohe Auflösung erhalten. Die von der Probe erzeugten Sekundärelektronen werden gesammelt, verstärkt und fokussiert, um das Bild zu erzeugen. Das Mikroskop verfügt auch über ein großes Sichtfeld aufgrund der beeindruckenden Palette von Vergrößerungen zur Verfügung. Vergrößerungen von bis zu 200.000x sind bei entsprechenden Auflösungen besser als 0,7nm möglich. Mit dieser Art von hoher Vergrößerung haben Forscher die Fähigkeit, Phänomene, die bisher nicht erreichbar waren, genau zu analysieren. Die hochauflösende Bildgebung kann durch die Vielzahl der dem Anwender zur Verfügung stehenden Detektoren, einschließlich rückgestreuter Elektronen, In-Linsen-Detektion und sogar Fernseitenbildgebung, weiter verbessert werden. Dies macht es einfach, feine Strukturen zu analysieren und subtile Unterschiede in der mineralischen Zusammensetzung und anderen Aspekten zu erkennen. Um die erweiterten analytischen Funktionen zu erleichtern, ist das Instrument auch mit einer Reihe von Softwarepaketen ausgestattet. Dazu gehören Partikelanalyse, Elementarkartierung, Kornanalyse und sogar 3D-Bildgebung. Alle analytischen Funktionen werden kombiniert, um Benutzern die Möglichkeit zu geben, ihre Proben mit unübertroffenen Details und Genauigkeit zu erkunden. Zusammenfassend ist JSM 5300LV ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop mit einer Reihe von Funktionen zur Verbesserung der Bildgebungs- und Analyseleistung. Dieses leistungsstarke, vielseitige Mikroskop ist ein perfektes Werkzeug für Anwender, die Proben mit viel Detail und Genauigkeit erkunden möchten.