Gebraucht JEOL JSM 5310 #293607014 zu verkaufen

JEOL JSM 5310 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende, Hochgeschwindigkeits-Bildgebung und beispiellose analytische Fähigkeiten kombiniert. Sein Wide Field STEM (WF-STEM) Bildgebungssystem einer effizienten Hochspannungselektronenquelle wurde entwickelt, um eine beispiellose 3D-Bildauflösung zu erzeugen. Sein Hochleistungs-Silizium-Drift-Detektor verstärkt und verbessert das Signal des SEM von kleinen Partikeln, niedrigen Kontrastmerkmalen und Bereichen mit niedrigen Z-Elementen. Darüber hinaus ermöglicht der Windfeldmodus eine schnelle und weiträumige Abbildung einer Probe über verschiedene Neigungswinkel. JSM 5310 ist mit einem einspaltigen Niedrigvakuumsystem ausgestattet, das empfindliche Probenstrukturen bewahrt und einen direkten Oberflächenkontakt der Probenstufe ermöglicht. Die Feinabstimmungs-Scantechnologie bietet auch höhere Genauigkeit und Stabilität für verschiedene Bildgebungsmodi, wie ASTAR und Echtzeit-Strukturerkennung. Der Unterdruckmodus (RP-Modus) ermöglicht eine reduzierte Kammerkontamination bei Langzeitbeobachtungen im Niedervakuum. JEOL JSM 5310 ist ein fortschrittliches Bildgebungssystem, das eine extrem hohe Auflösung und einen hohen Durchsatz ermöglicht. Die Kombination aus hohem Bildkontrast, hoher Geschwindigkeit und geringem Rauschen macht es für alle Arten von nanoskaligen Materialien geeignet, wie integrierte Schaltungen, Nanodrähte, Gitter, nanoelektromechanische Systeme und mehr. Seine CrystalSnapper-Funktion bietet automatische Echtzeit-Visualisierung und Kristallerkennung, die für Life-Science-Anwendungen nützlich ist. Ein optionaler Sekundärelektronendetektor (SE) kann zu JSM 5310 hinzugefügt werden, um eine erhöhte SE-Empfindlichkeit, SE-Kontrast und SE-Dynamik bereitzustellen. Dieser SE-Detektor kann auch die Stabilität und den Kontrast von elementaren Karten verbessern und Proben detaillierter qualifizieren. Der Compact Mode des JSM 530 ist auch eine interessante Funktion, die hilft, die bildgebenden Ergebnisse in einem kleineren Platzbedarf und reduzierte Kosten zu maximieren. Insgesamt JEOL JSM 5310 ist ein ultra-hochauflösendes SEM, das eine breite Palette von High-End-analytischen Anforderungen mit seinen fortschrittlichen Bildgebungstechnologien, niedrigen Vakuum-Bildgebungsfunktionen und seinem optionalen SE-Detektor erfüllt. Seine qualitativ hochwertigen bildgebenden Ergebnisse und ausgefeilten analytischen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für die meisten bildgebenden und analytischen Anforderungen.