Gebraucht JEOL JSM 5400 #293771286 zu verkaufen

JEOL JSM 5400 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine große Vakuumkammer und -säule verwendet, um Elektronen zu detektieren, die von einer untersuchten Probe emittiert werden. Es ist eine beliebte Wahl für den Nachweis feiner körniger Strukturen, sowohl organisch als auch anorganisch, in einer Vielzahl von Anwendungen, die von der Materialwissenschaft bis zu biomedizinischen Wissenschaften reichen. JSM 5400 verwendet eine Elektronenkanone, die sich in der Nachbeschleunigungskammer befindet. Die Pistole ist in der Lage, Elektronen bis zu einer Energie von 20 keV zu beschleunigen und sie dann an die Probenkammer weiterzuleiten. Die Elektronen werden dann durch Kondensatorlinsen fokussiert und in einen Strahl geleitet, der auf die Probe aufgescannt wird. Die durch die Probe hindurchtretenden Elektronen übertragen Energie an die Probe, die Sekundärsignale wie rückgestreute Elektronen und Sekundärelektronen verursacht. Diese Signale werden von einem in der Rückstreusäule angebrachten Elektronendetektor detektiert und können analysiert werden, um Karten der Oberfläche der Probe mit hoher Auflösung zu erstellen. JEOL JSM 5400 Ausrüstung ist in der Lage, hochauflösende Bilder zu produzieren, bis zu 300 nm in der Größe, liefert detaillierte Ansichten der Oberflächenmerkmale. Es umfasst auch verschiedene Systeme wie variable Druckabtastung, sekundäre Elektronenbildgebung und sogar energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für die elementare Zusammensetzungsanalyse von Proben. Das System verfügt auch über integrierte Hardware zur Durchführung automatisierter Bildnähte, wodurch größere Bereiche der Probe abgebildet werden können, ohne dass Lücken zwischen Bildern entstehen. Darüber hinaus kann JSM 5400 auch mit einer Autofokus-Einheit ausgestattet werden. Diese Maschine überwacht das sekundäre Elektronenbild der Probe und passt den Strahlfokus der Elektronenkanone in Echtzeit an, um das Bild scharf zu halten. Dies verbessert die Bildgebung von stark gekrümmten Probenoberflächen und reduziert den während der Bildgebung erforderlichen Benutzereingriff. Insgesamt ist JEOL JSM 5400 ein fortschrittliches SEM, das sich für die Abbildung von hochdetaillierten Oberflächen auf der Nanoskala eignet. Mit seiner breiten Palette von Funktionen ist es eine sehr beliebte Wahl für viele Forscher, die an Minutenproben arbeiten. Es bietet Forschern eine Möglichkeit, Proben in beispiellosen Details zu untersuchen und einen besseren Einblick in die Morphologie und Zusammensetzung von Materialien zu ermöglichen.