Gebraucht JEOL JSM 5400 #9079563 zu verkaufen

JEOL JSM 5400
ID: 9079563
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 5400 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer einzigartigen Kombination aus Leistung und Eigenschaften. Es bietet hochauflösende Bildgebung, eine breite Palette von analytischen Anwendungen und benutzerfreundliche Bedienung. Dieses Spitzeninstrument ist in der Lage, detaillierte Bilder zu erfassen und mit seinem leistungsstarken Elektronenstrahl und seiner großen Kammer eine Vielzahl von analytischen Aufgaben durchzuführen. JSM 5400 ist mit einem Thermo Noran Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) zur chemischen Identifizierung unbekannter Partikel ausgestattet. Dieses Spektrometer verfügt über hochauflösende Bildgebung und eine Reihe von Energieanalysen, wie elementare Kartierung und Zusammensetzung. JEOL JSM 5400 enthält auch einen Sekundärelektronendetektor zur Erzielung eines optimalen Bildkontrasts in nichtleitenden Proben und zur Messung der Oberflächentopographie. Zusätzlich kann das Instrument über einen BSE-Detektor Oberflächenpotential messen. Das Instrument ist mit einem 300 Newtons GeminiKV 4-achsigen Mikromanipulator zur präzisen Platzierung und Manipulation von Proben ausgestattet. Dieser Mikromanipulator sorgt für eine reibungslose Koordination der Bewegung und seine Steuerung des Joystick ist für einen optimalen Befehl im dreidimensionalen Raum optimiert. Das Mikroskop ermöglicht je nach Anwendung einen maximalen Strahlstrom von 1 pA bis 2 nA. Der variable Arbeitsabstand ist von 8 mm bis 32 mm einstellbar, um eine breite Palette von Proben untersuchen zu können. Zusätzlich bietet dieses SEM eine hervorragende Probenstabilität mit vibrationsfreiem Betrieb und Kryo-Stabilität für gefrorenes oder kryogen behandeltes Material. Die Benutzeroberfläche des JSM 5400 verfügt über ein modernes Bedienfeld, das eine intuitive Bedienung des Instruments ermöglicht. Das Bedienfeld verfügt über eine symbolbasierte Menüstruktur, mit der Benutzer analytische Parameter einfach auswählen und schnell genaue Ergebnisse erzielen können. Darüber hinaus bietet die Steuerungssoftware auch eine erweiterte dreidimensionale Betrachtung mit rekonstruierten Bildern. JEOL JSM 5400 ist ein leistungsstarkes SEM, das für optimale Benutzerfreundlichkeit und maximale Leistung entwickelt wurde. Mit seiner Kombination aus fortschrittlicher Bildgebung, analytischen Funktionen, benutzerfreundlicher Oberfläche und einzigartigem Mikromanipulator bietet JSM 5400 ein ideales Instrument für viele Arten von SEM-Anwendungen.
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