Gebraucht JEOL JSM 5400 #9176404 zu verkaufen

JEOL JSM 5400 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Anforderungen entwickelt wurde. Das vielseitige Instrumentenpaket verfügt über eine hochauflösende SEM-Ausrüstung kombiniert mit einer Hochvakuumkammer und einer großen Auswahl an Detektoren und Probenstufen. Diese Kombination von Technologien verleiht dem Mikroskop unübertroffene Flexibilität und Fähigkeit sowohl für die Bildgebung als auch für die Analyse. Das SEM hat eine variable Druck-Sekundärsäule mit einem maximalen Arbeitsdruck von 5 x 10-7 Pa.Dies hilft, Verunreinigungen von der Probe fernzuhalten, um eine bessere bildgebende Klarheit zu erzielen. Das direkte Strahlausrichtungssystem stellt sicher, dass die Probenpositionierung präzise ist, was hilft, Probenmerkmale genau zu messen. Die Hochspannungsversorgung ermöglicht eine breite Palette von Elektronenstrahlenergien, wodurch sie für eine Vielzahl von Materialien geeignet ist, einschließlich, aber nicht beschränkt auf Metalle, Halbleiter, Isolatoren, Kohlenwasserstoffe und molekulare Kristalle. JSM 5400 bietet auch eine breite Auswahl an Bildaufbereitungs- und Analyseentdeckern, einschließlich eines Energie-Dispersive Energieeinsparungsröntgenstrahlspektrometers (EDS), ein Entdecker der Energie hat Übertragungselektronmikroskopie gefiltert (EFTEM), ein sekundärer Elektronentdecker (SED) und ein Ionsbalkenanalyseentdecker (IBAD) an. Mit den EDS- und SED-Detektoren kann der Anwender schnell und einfach Probeneigenschaften charakterisieren und elementare Mapping durchführen, um einen detaillierten Einblick in die Probenzusammensetzung zu erhalten. Das EFTEM dient zur elementaren Kartierung und zur Untersuchung der Ultrastruktur von Proben ohne künstlerische Einschlüsse. Der IBAD-Detektor ermöglicht eine Reihe von Ionenstrahlanalysetechniken. Das Mikroskop verfügt über eine einzigartige Probenmanipulationseinheit, die eine automatisierte Visualisierung und Manipulation mehrerer Proben ermöglicht. Die automatisierte Probenhandhabung ermöglicht eine schnellere Probenvorbereitung und einfachere Probenbewegung. Die spezialisierte Umweltkontrollmaschine wurde entwickelt, um eine konstante Temperatur und Feuchtigkeit aufrechtzuerhalten, um die Probe in der Hochvakuumumgebung des SEM stabil zu halten. JEOL JSM 5400 hat einen relativ geringen Platzbedarf und eine hohe Benutzerfreundlichkeit, was es zu einer idealen Wahl für Analyselabore, Forschungseinrichtungen und sogar für Fertigungs- und Industrieanwendungen macht. Mit einer großen Palette von angezeigten Bildauflösungs- und Feldgrößenfunktionen kann JSM 5400 hervorragende Bildgebung, hochwertige Datenvisualisierung und leistungsstarke Analysefähigkeit für eine Vielzahl von Probentypen bieten.