Gebraucht JEOL JSM 5410 / MP 5410 #128977 zu verkaufen
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ID: 128977
Scanning electron microscope
Voltage: 100V +/- 10V
Current maximum: 25A
Starting current maximum: 70A
Power maximum: 25 kVA
Frequency: 1 phase, 50 / 60 Hz
Ground resistance maximum: 100 ohm
Cooling water: 2 liters per minute.
JEOL JSM 5410/MP 5410 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG), die eine überlegene hochauflösende Bildgebung über eine Vielzahl von Anwendungen bietet. JSM 5410/MP 5410 verfügt über ein fortschrittliches digitales Mehrkanal-Elektronenoptikdesign, eine variable Blendensteuerung und eine breitaufgelöste DSP-Bildaufnahmeausrüstung (Digital Signal Processor). JEOL JSM 5410/MP 5410 verwendet eine leistungsstarke 500-mm-Apertur-Feldemissionskanone zusammen mit einem einzigartigen neuen Equibar™ SuperDyn™ Elektronenoptiken-System, um mehr bildgebende Klarheit zu bieten. Diese bildgebende Einheit enthält auch High Dynamic Range (HDR) -Bildgebung mit High Index Longitudinal Redesign (HILR), um eine möglichst hohe Auflösung und beste bildgebende Ergebnisse zu gewährleisten. JSM 5410/MP 5410 bietet überlegene bildgebende Funktionen mit einer breiten Palette von Vergrößerungen und verfügt über eine große Palette von analytischen Werkzeugen. Dazu gehören die Energy Dispersive Röntgenanalyse (EDX) für die Materialelementkartierung, die Atomic Force Microscopy (AFM) für die Messung der Oberflächentopographie, die Electron Back-Scattering Diffraction (EBSD) für die Korneigenschaften und die Partikelidentifikation Pet (Pet). JEOL JSM 5410/MP 5410 digitale Bilderfassungsmaschine bietet eine Reihe von Funktionen für den Benutzer. Dies beinhaltet die Möglichkeit, einzelne Belichtungsbilder sowie Bilder mit mehreren Bildern mit einer Integrationszeit von bis zu 30 Minuten zu erfassen. Der digitale Prozessor eröffnet auch die Möglichkeit, einen erweiterten Rauschfilteralgorithmus zu verwenden und ein größeres Sichtfeld sowohl in Kontrast als auch Intensität zu betrachten. Das Tool bietet auch hervorragende Videoausgänge, die eine schnelle Vorschau von Bildern sowohl auf dem Display als auch auf sekundären Geräten ermöglichen. Die Ausgabe kann auch in Echtzeit verarbeitet und gefiltert werden, um ein noch hochwertigeres Bild zu erzeugen. Der Detektor von JSM 5410/MP 5410 kann entweder im automatischen oder manuellen Gain Control (AGC) Modus betrieben werden, um Kontrast und Bildauflösung zu optimieren. Insgesamt ist JEOL JSM 5410/MP 5410 ein Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Dieses SEM verfügt über eine 500-mm-Apertur-Feldemissionskanone und Equibar™ SuperDyn™ Elektronenoptik, die eine ausgezeichnete bildgebende Klarheit mit einer Vielzahl von bildgebenden Werkzeugen bietet. Die fortschrittliche digitale Signalverarbeitung bietet eine Reihe von Funktionen wie einen Rauschfilteralgorithmus und eine Echtzeit-Bildverarbeitung, um die Bildklarheit zu optimieren.
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