Gebraucht JEOL JSM 5410 #293619134 zu verkaufen

JEOL JSM 5410 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse ultrafeiner Strukturen. Es ist mit einer Field Emission Gun (FEG) und einer Reihe von Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen ausgestattet. Das FEG produziert Elektronen mit einer Energie von bis zu 7 keV und einer Spotgröße von 1 nm für hochauflösende Bildgebung, wodurch JSM 5410 ideal für die Untersuchung der feineren Details von Proben ist. Es kann auch bei niedrigeren Spannungen für größere Strukturen wie Merkmale auf integrierten Schaltungen verwendet werden. JEOL JSM 5410 ist mit einem geschlossenen digitalen Bildgebungsgerät ausgestattet, das eine ultrastabile PentaScan-Stufe mit drei Dias, ein Schnellscanmodul und ein variables Scan-Modul mit 31 cm/Pixel umfasst. Dies ermöglicht Präzision auf Mikrometer-Niveau in der Probenpositionierung und -navigation sowie flexible Probenahmegeschwindigkeit. Das Mikroskop umfasst ferner einen Sekundärelektronendetektor (SE), einen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) und ein hochleistungsfähiges digitales Abbildungssystem. JSM 5410 verwendet eine hybride bildgebende Detektionseinheit mit einem Pixelarray-Detektor, einem Szintillationsdetektor und einer phosphordirekten Auslesemaschine. Dieses Hybrid-Tool ermöglicht eine überlegene Erkennungseffizienz im Vergleich zu einem einzigen Detektor-Asset. JEOL JSM 5410 enthält eine Reihe von Softwarepaketen zur Bilderfassung und -analyse, einschließlich JEOL Autoscan Software, die automatisierte Steuerungen für Mikroskopscannen, Bildgebung und Messungen bietet. Darüber hinaus bietet JEOL Image Analyzer eine leistungsstarke quantitative und qualitative Analyse von SEM-Bildern. JSM 5410 bietet auch eine Reihe von externen Schnittstellen und Optionen, einschließlich eines Mustergenerators und eines Luftstreamers für die Mikroskopreinigung. Dieses fortschrittliche Elektronenmikroskop bietet verschiedene Betriebsmodi, hochwertige Bildgebung und eine breite Palette von Funktionen für eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analyseaufgaben.