Gebraucht JEOL JSM 5410LV #9080015 zu verkaufen

JEOL JSM 5410LV ist ein fortgeschrittenes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses Modell von SEM ist ein Hochleistungsinstrument, das Bildgebung und Analyse für eine breite Palette von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen bietet. Es wurde entwickelt, um sowohl eine hohe Vergrößerung als auch eine hohe Leistung zu bieten, die eine Analyse der feinsten Details einer Probe ermöglicht. JSM 5410LV ist mit einer Variation von Hochdurchsatzdetektoren ausgestattet, die zum Nachweis von Partikeln mit einer Vielzahl von Energien entwickelt wurden. Einer der Detektoren ist eine Schottky Field Emission Gun (FEG), die hochauflösende Bildgebung für selbst die empfindlichsten Exemplare produziert. Diese Mikroskopieausrüstung verfügt über ein modernes Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM) und einen Niederspannungs-Rasterelektronendetektor (LVSEM). Dieses Mikroskop ist mit einer hochpräzisen mehrachsigen Stufe ausgestattet, die eine genaue und zuverlässige Probenmanipulation ermöglicht. Zusätzlich ermöglicht ein automatisches Probentransfersystem eine schnelle und konsistente Ausrichtung der Probe auf der Bühne. Dies ermöglicht reibungslose Arbeitsabläufe und eine genaue Positionierung verschiedener Teile der Probe für die Analyse und Bildgebung. Die JSM 5610 ist für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, wie Phasenkontrastbildgebung, Rückstreuung, sekundäre Elektronenbildgebung und chemische Bildgebung. Es unterstützt auch eine Vielfalt von analytischen Techniken, einschließlich der Energie dispersive Röntgenstrahlspektroskopie, Elektronspektroskopie von Auger, cathodoluminescence, und niedrige Stromspannung, Elektronmikroskopie (LV-SEM) scannend. Neben den leistungsstarken Funktionen des Geräts ist es auch mit der neuesten grafischen Benutzeroberflächentechnologie (GUI) ausgestattet, die die Bedienung der Maschine vereinfacht und komfortable Datenvisualisierungen ermöglicht. JEOL JSM 5410LV ist auch mit Blick auf Robustheit gebaut und ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Umweltextremen konzipiert. JSM 5410LV Scanning Electron Microscope ist ein leistungsstarkes Instrument für harte Wissenschaft und industrielle Anwendungen. Es bietet hochauflösende Bilder zusammen mit analytischen Fähigkeiten und ist für einen robusten Betrieb in einer Vielzahl von Umweltextremen konzipiert. JEOL JSM 5410LV ist mit seiner vielseitigen mehrachsigen Bühne, Hochleistungsdetektoren und der benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche eine ideale Wahl für diejenigen, die ein fortschrittliches und fähiges SEM zur Analyse von Proben suchen.