Gebraucht JEOL JSM 5500 #9103747 zu verkaufen

JEOL JSM 5500 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bilder sowohl von nichtleitenden als auch von leitenden Materialien bereitzustellen. Es verwendet Sekundärelektronen (SEs) und Röntgenstrahlen, um Probeneigenschaften zu testen und kann sowohl für die Abbildung von Metall- als auch Nichtmetallproben verwendet werden. JSM 5500 hat einen variablen Beschleunigungsspannungsregelbereich von bis zu 100.000 Volt (100kV). Dies ermöglicht eine detaillierte physikalische Abbildung der Oberfläche eines Objekts sowie eine dreidimensionale Abbildung. Es verfügt auch über eine erweiterte Autokonvergenz-Fähigkeit, die automatisch die Spannung, den Strom und den Bildabstand anpasst, um eine optimale Auflösung zu bieten. JEOL JSM 5500 ist mit einer automatischen Ausrichtungs- und Objektverfolgungsausrüstung ausgestattet, die eine präzise Ausrichtung und Messung der Proben ermöglicht. Dieses System umfasst eine motorisch angetriebene Stufe, die die Neupositionierung von Bühne und Probe bei Scans ohne Fokuseinstellung ermöglicht. Mit dieser Funktion entfällt auch die Notwendigkeit einer manuellen Musterausrichtung, die genaue und konsistente Scans ermöglicht. JSM 5500 verfügt über einen einzigartigen ESE (Environmental Scanning Electron) Detektor, der die Analyse von Proben bei niedriger Spannung, ohne Ladungskompensation und mit höherer Auflösung ermöglicht. Diese Einheit liefert auch wertvolle Daten über die Probenumgebung, einschließlich Temperatur, Druck und Grad der Wechselwirkung zwischen der Probe und dem Elektronenstrahl. JEOL JSM 5500 ist in der Lage, eine Vielzahl von Bildtypen und Vergrößerungen zu produzieren. Die Vergrößerung reicht von 0,8x bis 800.000x, mit einer feldfähigen Scanfläche von bis zu 85 mm. Diese Maschine enthält auch einen speziellen Probenhalter, der die manuelle Übertragung von Probenstufen eliminiert, wodurch die Wahrscheinlichkeit von Kontaminationen und Probenschäden reduziert wird. Neben bildgebenden Proben ist JSM 5500 auch in der Lage, analytische Aufgaben wie Elementaranalyse, Nachweis chemischer Verbindungen und Messung physikalischer Eigenschaften wie Härte und Elastizität zu erfüllen. Dies ermöglicht die Erfassung unterschiedlichster Daten, die für detaillierte wissenschaftliche Untersuchungen verwendet werden können. JEOL JSM 5500 ist ein fortschrittliches und benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop. Seine Eigenschaften, einschließlich der automatischen Ausrichtung und Objektverfolgung, eine breite Palette von Vergrößerungen, ein eigener Probenhalter und ESE-Detektor, machen dieses Tool für eine Reihe von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen geeignet, einschließlich Probenanalyse und Bildgebung.